[发明专利]一种成像光谱仪快速自动化曝光成像方法及存储介质在审
申请号: | 202211034096.4 | 申请日: | 2022-08-26 |
公开(公告)号: | CN115514900A | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
发明(设计)人: | 常振;司福祺;王煜;奚亮;黄书华;赵欣 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | H04N5/235 | 分类号: | H04N5/235;H04N17/00;G01J3/28 |
代理公司: | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人: | 苗娟 |
地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 成像 光谱仪 快速 自动化 曝光 方法 存储 介质 | ||
1.一种成像光谱仪快速自动化曝光成像方法,其特征在于,包括以下步骤:
指定波段、指定行作为测光像元,根据该区域像元的平均DN值作为测光依据;然后对成像光谱仪进行初始化操作,根据需要设定相关参数:
基于上述指定的波段、指定的行作为测光像元,使用两点法进行测光,并得到曝光时间T;
最后采用曝光时间T进行数据采集。
2.根据权利要求1所述的成像光谱仪快速自动化曝光成像方法,其特征在于:所述对成像光谱仪进行初始化操作,根据需要设定相关参数,包括:
设定目标波段:λ1~λ2;
设定目标波段目标灰度值:DNt;
设定测光行号:R1,R2,…,RN;
设定曝光时间最值:TMIN、TMAX。
3.根据权利要求2所述的成像光谱仪快速自动化曝光成像方法,其特征在于:最后采用曝光时间T进行数据采集之前还包括判断目标曝光时间T是否超出最值,并且当小于设定的最小值TMIN则将T值修改为TMIN;大于设定的最小值TMAX则将T值修改为TMAX。
4.根据权利要求1所述的成像光谱仪快速自动化曝光成像方法,其特征在于:所述指定波段即为目标波段的选取,即结合成像光谱仪应用场景,将目标波段数值自动曝光到高亮度目标灰度值以获取高信噪比数据。
5.根据权利要求1所述的成像光谱仪快速自动化曝光成像方法,其特征在于:所述基于上述指定的波段、指定的行作为测光像元,进行测光,并得到曝光时间T,具体包括:
采用曝光时间T1进行成像,计算测光行目标波段内平均值:DNA1;
采用曝光时间T2进行成像,计算测光行目标波段内平均值:DNA2;
将T1、T2、DNA1、DNA2和DNt带入公式(2),得到曝光时间:T;
其中,目标曝光时间T的计算方法:
T=α·DNt+β (2)
其中,
其中T1、T2,DNA1、DNA2分别两次曝光时间及其对应的测光像元的平均DN值,α和β为目标DN值DNt到目标曝光时间的映射系数。
6.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。
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