[发明专利]一种成像光谱仪快速自动化曝光成像方法及存储介质在审
申请号: | 202211034096.4 | 申请日: | 2022-08-26 |
公开(公告)号: | CN115514900A | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
发明(设计)人: | 常振;司福祺;王煜;奚亮;黄书华;赵欣 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | H04N5/235 | 分类号: | H04N5/235;H04N17/00;G01J3/28 |
代理公司: | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人: | 苗娟 |
地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 成像 光谱仪 快速 自动化 曝光 方法 存储 介质 | ||
本发明的一种成像光谱仪快速自动化曝光成像方法及存储介质,包括以下步骤指定波段、指定行作为测光像元,根据该区域像元的平均DN值作为测光依据;然后对成像光谱仪进行初始化操作,根据需要设定相关参数:基于上述指定的波段、指定的行作为测光像元,进行测光,并得到曝光时间T;最后采用曝光时间T进行数据采集。本发明根据成像光谱仪数据特点,在保证测光质量的前提下,通过指定波段、指定空间维像元的方法,减少读出像元,缩短测光图像的读出时间;结合成像系统工作原理,通过两点法,快速读出两幅短曝光测光图像即可得到目标曝光时间、实现成像光谱仪快速自动化曝光成像,准确、可靠。
技术领域
本发明涉及成像技术领域,具体涉及一种成像光谱仪快速自动化曝光成像方法及存储介质。
背景技术
成像系统的成像亮度调整参数通常包括三种:调整光圈大小、调整曝光时间长短和调整成像增益(即放大倍数)。因此调整拍摄目标亮度的方法即是对此三个参数的调整。
自动曝光即是成像系统自动调整系统参数,使得目标亮度达到指定标准。该标准即是目标亮度的评价算法,通常有三种:平均亮度法、权重均值法和亮度直方图。平均亮度法就是对图像所有像素亮度求平均值,通过不断调整曝光参数最终达到目标亮度。而权重均值法是对图像不同区域设置不同权重来计算图像亮度。亮度直方图法是通过为直方图中峰值分配不同权重来计算图像亮度。
光谱仪成像系统获取的是目标区域的光谱信息,可采用平均亮度法进行目标亮度评价(即测光),此方法获取的是目标区域全波段的平均亮度信息。当需要获取某个特定波段的高亮度信息时,此测光方法不再适用。
成像光谱仪通过获取目标区域的光谱信息,结合反演算法可获取目标区域的浓度信息。如差分成像光谱仪获取目标区域在338~370nm波段的光谱数据可反演NO2的柱浓度,307.8~330nm波段的光谱信息可用于反演SO2的柱浓度等。因此当反演特定气体时,须获取其对应反演波段的高质量数据,即指定波段具有较高亮度。
总的来说,传统方法的自动曝光标准不适合光谱仪类成像系统,且通常需要获取至少3-4幅图像用于曝光测定,浪费数据采集时间窗口。为提升数据采集效率同时保证光谱数据质量,需要快速自动化曝光方法。
发明内容
本发明提出的一种成像光谱仪快速自动化曝光成像方法及存储介质,根据成像目标亮度,实现成像光谱仪快速自动化曝光时间调整,使得获取的图像达到指定亮度,从而提升数据质量。
为实现上述目的,本发明采用了以下技术方案:
一种成像光谱仪快速自动化曝光成像方法,包括以下步骤:
指定波段、指定行作为测光像元,根据该区域像元的平均DN值作为测光依据;然后对成像光谱仪进行初始化操作,根据需要设定相关参数:
基于上述指定的波段、指定的行作为测光像元,进行测光,并得到曝光时间T;
最后采用曝光时间T进行数据采集。
进一步,最后采用曝光时间T进行数据采集之前还包括判断目标曝光时间T是否超出最值,并且当小于设定的最小值TMIN则将T值修改为TMIN;大于设定的最小值TMAX则将T值修改为TMAX。
进一步的,所述对成像光谱仪进行初始化操作,根据需要设定相关参数,包括:
设定目标波段:λ1~λ2;
设定目标波段目标灰度值:DNt;
设定测光行号:R1,R2,…,RN;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院,未经中国科学院合肥物质科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211034096.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。