[发明专利]一种SPI信号质量的测量装置、方法以及一种电路板卡

权利要求书

1.一种SPI信号质量的测试装置，其特征在于，包括：控制器以及与待测SPI信号线中所有CS、CLK、MISO和MOSI信号线路数量相等的ADC、第一比较器和第二比较器；

其中，所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI分别与VCC相连，各个ADC的第一端分别与所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI相连，各个ADC的第二端均与所述控制器相连，各个第一比较器的第一输入端分别与所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI相连，各个第一比较器的第二输入端均用于接收第一可调电压，各个第一比较器的输出端均与所述控制器相连，各个第二比较器的第一输入端分别与所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI相连，各个第二比较器的第二输入端均用于接收第二可调电压，各个第二比较器的输出端均与所述控制器相连；所述控制器用于基于SPI测试标准，并根据各个ADC、第一比较器和第二比较器所采集到的信号对所述待测SPI信号线所输出的待测SPI信号进行质量测试。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：

与所述控制器相连，用于输出所述第一可调电压的第一调压电路；

与所述控制器相连，用于输出所述第二可调电压的第二调压电路。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：

与所述控制器相连，用于对各个ADC、第一比较器和第二比较器所采集到的信号进行存储的EEPROM。

4.一种电路板卡，其特征在于，包括如权利要求1至3任一项所述的一种SPI信号质量的测试装置。

5.一种SPI信号质量的测试方法，其特征在于，应用于权利要求1至3任一项所述的一种SPI信号质量的测试装置中的所述控制器，包括：

基于所述SPI测试标准，并根据各个ADC、第一比较器和第二比较器所采集到的信号对所述待测SPI信号线所输出的所述待测SPI信号进行质量测试。

6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述SPI测试标准，并根据各个ADC、第一比较器和第二比较器所采集到的信号对所述待测SPI信号线所输出的所述待测SPI信号进行质量测试的过程，包括：

利用各个ADC分别采集所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI的输出信号，得到第一输出信号、第二输出信号、第三输出信号和第四输出信号；

分别对所述第一输出信号、所述第二输出信号、所述第三输出信号和所述第四输出信号进行数模转换，得到第一转换信号、第二转换信号、第三转换信号和第四转换信号；

根据所述第一转换信号、所述第二转换信号、所述第三转换信号和所述第四转换信号判断所述待测SPI信号中所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI输出的高低电平是否符合所述SPI测试标准。

7.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述SPI测试标准，并根据各个ADC、第一比较器和第二比较器所采集到的信号对所述待测SPI信号线所输出的所述待测SPI信号进行质量测试的过程，包括：

控制所述第一可调电压输出第一预设电压，并检测与所述CLK相连第一比较器第一次输出高电平、第一次输出低电平以及第二次输出高电平的时间，得到第一时间、第二时间和第三时间；

根据所述第一时间、第二时间和第三时间判断所述待测SPI信号中所述CLK输出信号的高低电平时间以及跳变频率是否符合所述SPI测试标准；

控制所述第一可调电压输出第二预设电压，并控制所述第二可调电压输出第三预设电压；

检测与所述CLK相连第一比较器第一次输出高电平和低电平的时间，得到第四时间和第五时间，并检测与所述CLK相连第二比较器第一次输出高电平和低电平的时间，得到第六时间和第七时间；

根据所述第四时间、所述第五时间、所述第六时间和所述第七时间判断所述待测SPI信号中所述CLK输出信号的上升时间和下降时间是否符合所述SPI测试标准。