[发明专利]一种SPI信号质量的测量装置、方法以及一种电路板卡

说明书

本申请公开了一种SPI信号质量的测试装置、方法及电路板卡，属于信号测试技术领域，该装置包括：控制器以及与SPI信号线中所有信号线路数量相等的ADC、第一比较器、第二比较器；各个ADC的第一端分别与CS、CLK、MISO和MOSI相连，各个ADC的第二端均与控制器相连，各个第一比较器的第一输入端分别与CS、CLK、MISO和MOSI相连，各个第一比较器的第二输入端均用于接收第一可调电压，各个第二比较器的第一输入端分别与CS、CLK、MISO和MOSI相连，各个第二比较器的第二输入端均用于接收第二可调电压，所有比较器的输出端均与控制器相连。通过该装置可以提高SPI信号质量测试结果的准确性与可靠性。

技术领域

本发明涉及信号测试技术领域，特别涉及一种SPI信号质量的测试装置、方法以及一种电路板卡。

背景技术

SPI(Serial Peripheral Interface，串行外设接口)协议是一种十分常见的通讯方式，为了保证SPI信号质量的可靠性，需要对SPI的信号质量进行测试。在现有技术中，一般是人工手动通过示波器来抓取SPI信号的波形图，并根据SPI测试标准来对SPI信号进行测试。但是，在人工手动通过示波器抓取SPI信号波形图的过程中，不仅极易产生误操作，而且，SPI信号质量的检测结果也容易受到人为观测结果的影响，这样就无法保证SPI信号质量测试结果的准确性与可靠性。目前，针对这一技术问题，还没有较为有效的解决办法。

由此可见，如何进一步提高SPI信号质量测试结果的准确性与可靠性，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种SPI信号质量的测试装置、方法以及一种电路板卡，以进一步提高SPI信号质量测试结果的准确性与可靠性。其具体方案如下：

一种SPI信号质量的测试装置，包括：控制器以及与待测SPI信号线中所有CS、CLK、MISO和MOSI信号线路数量相等的ADC、第一比较器和第二比较器；

其中，所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI分别与VCC相连，各个ADC的第一端分别与所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI相连，各个ADC的第二端均与所述控制器相连，各个第一比较器的第一输入端分别与所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI相连，各个第一比较器的第二输入端均用于接收第一可调电压，各个第一比较器的输出端均与所述控制器相连，各个第二比较器的第一输入端分别与所述CS、所述CLK、所述MISO和所述MOSI相连，各个第二比较器的第二输入端均用于接收第二可调电压，各个第二比较器的输出端均与所述控制器相连；所述控制器用于基于SPI测试标准，并根据各个ADC、第一比较器和第二比较器所采集到的信号对所述待测SPI信号线所输出的待测SPI信号进行质量测试。

优选的，还包括：

与所述控制器相连，用于输出所述第一可调电压的第一调压电路；

与所述控制器相连，用于输出所述第二可调电压的第二调压电路。

优选的，还包括：

与所述控制器相连，用于对各个ADC、第一比较器和第二比较器所采集到的信号进行存储的EEPROM。

相应的，本发明还公开了一种电路板卡，包括如前述所公开的一种SPI信号质量的测试装置。

相应的，本发明还公开了一种SPI信号质量的测试方法，应用于前述所公开的一种SPI信号质量的测试装置中的所述控制器，包括：

基于所述SPI测试标准，并根据各个ADC、第一比较器和第二比较器所采集到的信号对所述待测SPI信号线所输出的所述待测SPI信号进行质量测试。

优选的，所述基于所述SPI测试标准，并根据各个ADC、第一比较器和第二比较器所采集到的信号对所述待测SPI信号线所输出的所述待测SPI信号进行质量测试的过程，包括：