[发明专利]带隙基准的滞回过温检测电路及电子设备

权利要求书

1.一种带隙基准的滞回过温检测电路，其特征在于，包括：带隙基准电压电路、基准电压修调电路、比较电路以及反馈电路；

所述带隙基准电压电路用于生成与温度无关的结电压和带隙基准电压；

所述基准电压修调电路用于对所述带隙基准电压进行修调，输出修调电压；

所述比较电路的正相输入端接收所述结电压，所述比较电路的负相输入端接收所述修调电压，所述比较电路用于对比所述结电压和修调电压，所述结电压大于所述修调电压时输出高电平逻辑信号，当所述结电压小于所述修调电压时输出低电平逻辑信号；

所述基准电压修调电路还用于接收所述比较电路输出的电压反馈信号，根据所述电压反馈信号调节输出的修调电压；

所述反馈电路基于所述低电平逻辑信号输出控制断开的信号。

2.根据权利要求1所述的带隙基准的滞回过温检测电路，其特征在于，所述基准电压修调电路，包括：

滞回晶体管、分压单元以及多路选择器，所述滞回晶体管的控制端连接所述比较电路，所述滞回晶体管的漏极连接分压单元；所述分压单元一端连接带隙基准电压电路，一端连接多路选择器，所述多路选择器用于输出修调电压；

所述滞回晶体管的源极接地、分压单元的另一端均接地。

3.根据权利要求2所述的带隙基准的滞回过温检测电路，其特征在于，

所述分压单元包括多个串联连接的分压电阻。

4.根据权利要求1所述的带隙基准的滞回过温检测电路，其特征在于，

所述反馈电路包括可控开关管。

5.根据权利要求1所述的带隙基准的滞回过温检测电路，其特征在于，

所述比较电路包括差分运算放大器。

6.根据权利要求2所述的带隙基准的滞回过温检测电路，其特征在于，

所述滞回晶体管采用双极型晶体管。

7.根据权利要求2所述的带隙基准的滞回过温检测电路，其特征在于，

所述滞回晶体管采用N型MOS管。

8.一种电子设备，其特征在于，应用权利要求1至7任一项所述的带隙基准的滞回过温检测电路。