[发明专利]基于光化学实验的新污染物的光修饰毒性评估方法在审

专利信息
申请号: 202211082491.X 申请日: 2022-09-06
公开(公告)号: CN115341012A 公开(公告)日: 2022-11-15
发明(设计)人: 葛林科;郑智轩;张蓬;朱超 申请(专利权)人: 陕西科技大学
主分类号: C12Q1/02 分类号: C12Q1/02;G01N21/76;C12R1/63
代理公司: 西安众和至成知识产权代理事务所(普通合伙) 61249 代理人: 李乃娟
地址: 710021*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 光化学 实验 污染物 修饰 毒性 评估 方法
【权利要求书】:

1.一种基于光化学实验的新污染物的光修饰毒性评估方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)配制新污染物水溶液,利用模拟日光对新污染物水溶液进行光照,然后收集不同光照时间的样品及未光照样品,分别置于试管中并避光冷藏;

(2)将费氏弧菌冻干粉在4℃下复温15min,按照费氏弧菌冻干粉与复苏液的比例0.2g:(1-2mL)向费氏弧菌冻干粉中加入4℃复苏液,并充分摇晃均匀后于20±5℃的温度下平衡复苏,然后根据发光强度测量仪的量程用浓度为20g/L的NaCl溶液稀释费氏弧菌,最后检测费氏弧菌溶液的初始发光强度确保其在发光强度测量仪的量程范围内;

(3)先取若干个干净的小管并分别加入100μL费氏弧菌溶液,再取步骤(1)避光冷藏的不同光照时间的样品及未光照样品各900μL并分别加入装有费氏弧菌溶液的小管中得到检测样品,然后利用发光细菌毒性检测仪测量检测样品的初始发光强度,记为I0,15min后再次测量检测样品的发光强度,记为I15

(4)计算步骤(3)各样品的发光抑制率R,公式如下:

以未光照样品的发光抑制率作为基准,将不同光照时间的样品的发光抑制率与其进行比较,若不同光照时间的样品发光抑制率高于基准,则代表新污染物具有光修饰毒性。

2.根据权利要求1所述的基于光化学实验的新污染物的光修饰毒性评估方法,其特征在于,所述步骤(1)中利用氙灯或汞灯模拟日光,且截止波长λ290nm。

3.根据权利要求1所述的基于光化学实验的新污染物的光修饰毒性评估方法,其特征在于,所述步骤(2)平衡复苏的时间为15min。

4.根据权利要求1所述的新污染物的光修饰毒性评估方法,其特征在于,所述步骤(3)检测样品的pH值为6.0-8.5。

5.根据权利要求4所述的基于光化学实验的新污染物的光修饰毒性评估方法,其特征在于,所述步骤(3)利用NaOH溶液或HCl溶液调节检测样品的pH值。

6.根据权利要求1所述的基于光化学实验的新污染物的光修饰毒性评估方法,其特征在于,所述步骤(3)的环境温度为15-25℃。

7.根据权利要求1所述的基于光化学实验的新污染物的光修饰毒性评估方法,其特征在于,所述步骤(3)至少重复3次。

8.根据权利要求1所述的基于光化学实验的新污染物的光修饰毒性评估方法,其特征在于,所述步骤(4)还包括利用SPSS统计分析软件对发光抑制率R进行显著性检验,当显著水平p0.05,视为不同光照时间的样品的发光抑制率与基准具有显著性差异,从而判断出新污染物具有光修饰毒性。

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