[发明专利]质量分析器安装装置及其使用方法

权利要求书

1.一种质量分析器安装装置，包括光学平台，其特征在于：还包括第一支座、第二支座、芯轴、导轨、多个支撑销以及多个锁紧件，所述第一支座以及所述第二支座分别固定于所述光学平台，所述第一支座与所述第二支座平行，所述第一支座设有第一基准面以及第二基准面，所述第二支座设有第三基准面以及第四基准面，所述芯轴安装于所述第一支座以及所述第二支座，并与所述第一基准面以及所述第三基准面抵触，所述导轨安装于所述第一支座以及所述第二支座，并与所述第二基准面以及所述第四基准面抵触，多个所述支撑销安装于所述导轨，所述支撑销端部与所述芯轴相切配合以调节所述支撑销相对所述导轨的位置，所述锁紧件将调节位置后的支撑销锁紧于所述导轨。

2.根据权利要求1所述的质量分析器安装装置，其特征在于：所述芯轴与所述第一基准面以及所述第三基准面相切。

3.根据权利要求2所述的质量分析器安装装置，其特征在于：所述第一基准面以及所述第三基准面均呈V形。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的质量分析器安装装置，其特征在于：所述第一支座包括第一主体以及第二紧固件，所述第一基准面设置于所述第一主体，所述第二紧固件转动安装于所述第一主体，所述第二紧固件端部与所述芯轴抵触使所述芯轴固定于所述第一支座。

5.根据权利要求4所述的质量分析器安装装置，其特征在于：所述第二紧固件的延伸方向与所述芯轴的轴向垂直。

6.根据权利要求1所述的质量分析器安装装置，其特征在于：所述导轨与所述第二基准面以及所述第四基准面贴合。

7.根据权利要求6所述的质量分析器安装装置，其特征在于：所述第二基准面以及所述第四基准面均包括至少两相互垂直的平面。

8.根据权利要求6-7任意一项所述的质量分析器安装装置，其特征在于：所述第一支座包括第一主体以及第三紧固件，所述第二基准面设置于所述第一主体，所述第三紧固件转动安装于所述第一主体，所述第三紧固件端部与所述导轨抵触使所述导轨固定于所述第一支座。

9.一种如权利要求1-8任意一项所述的质量分析器安装装置的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：

安装支座：将第一支座以及第二支座垂直固定于光学平台，此时所述第一支座与所述第二支座平行；

安装芯轴：将芯轴安装于所述第一支座的第一基准面以及所述第二支座的第三基准面，所述芯轴与所述第一基准面以及所述第三基准面相切，第二紧固件与所述芯轴抵触使所述芯轴固定于所述第一支座，第五紧固件与所述芯轴抵触使所述芯轴固定于所述第二支座，使所述芯轴平行于所述光学平台；

安装导轨：将导轨安装于所述第一支座的第二基准面以及所述第二支座的第四基准面，所述导轨与所述第二基准面以及所述第四基准面贴合，第三紧固件与所述导轨抵触使所述导轨固定于所述第一支座，第六紧固件与所述导轨抵触使所述导轨固定于所述第二支座，使所述导轨平行于所述光学平台；

安装支撑销：将多个支撑销安装于所述导轨，所述支撑销的端部与所述芯轴相切配合以调节所述支撑销相对所述导轨的位置，锁紧件将调节位置后的所述支撑销锁紧固定于所述导轨；

取下导轨：将所述导轨以及固定于所述导轨的支撑销从所述第一支座以及第二支座上取下，将导轨放置于所述光学平台，此时所述支撑销朝上；

安装质量分析器：将第一级质量分析组件、碰撞反应池以及第二级质量分析组件与支撑销配合，此时第一级质量分析组件、碰撞反应池以及第二级质量分析组件同轴。

10.根据权利要求9所述的质量分析器安装装置的使用方法，其特征在于：所述第一级质量分析组件、所述碰撞反应池以及所述第二级质量分析组件的外径相同，所述芯轴的外径与所述第一级质量分析组件、所述碰撞反应池以及所述第二级质量分析组件的外径相等。