[发明专利]质量分析器安装装置及其使用方法

说明书

本发明公开了一种质量分析器安装装置，属于质谱仪领域，第一支座以及第二支座分别固定于光学平台，第一支座与第二支座平行，第一支座设有第一基准面以及第二基准面，第二支座设有第三基准面以及第四基准面，芯轴与第一基准面以及第三基准面抵触，导轨与第二基准面以及第四基准面抵触，多个支撑销安装于导轨，支撑销端部与芯轴相切配合以调节支撑销相对导轨的位置，锁紧件将调节位置后的支撑销锁紧于导轨，本发明采用与外径相等的芯轴代替质量分析器，来确定支撑销在导轨上位置，方便的确保了第一级质量分析组件、碰撞反应池以及第二级质量分析组件三者的同轴度，提高了质量分析器的灵敏度。本发明还涉及一种上述质量分析器安装装置的使用方法。

技术领域

本发明涉及质谱仪领域，尤其是涉及质量分析器安装装置以及质量分析器安装装置的使用方法。

背景技术

三重四极杆质谱仪作为物质定性定量分析的重要工具，三重四极杆质谱仪可将样品粒子(原子、分子)电离后利用适当稳定或变化的电磁场按质荷比精确分离并测量强度，从而获得其组成成分和结构信息。近三十年来，随着质谱仪技术的进步，可分析的物质日趋丰富，应用领域不断拓宽，已经成为基础科研、国防安全、环境保护、食品安全、地质勘探、新材料、生命科学、生物医学等领域不可或缺的工具。

质量分析器是三重四极杆质谱仪最为核心的部件，作为离子通路的主要组成部分，完成离子传输、碰撞裂解、质量分析等过程，是实现三重四极杆质谱多工作模式的基础，也是影响质谱性能的核心，三重四极杆质谱仪质量分析器主要包括第一级质量分析器、碰撞反应池和第二级质量分析器等仪器，第一级质量分析器、碰撞反应池和第二级质量分析器三者的综合装配精度对质谱性能有重要影响，现有的第一级质量分析器、碰撞反应池和第二级质量分析器安装困难，同轴度低。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种第一级质量分析器、碰撞反应池和第二级质量分析器安装简单、同轴度高的质量分析器安装装置。

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之二在于提供一种第一级质量分析器、碰撞反应池和第二级质量分析器安装简单、同轴度高的质量分析器安装装置的使用方法。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种质量分析器安装装置，包括光学平台、第一支座、第二支座、芯轴、导轨、多个支撑销以及多个锁紧件，所述第一支座以及所述第二支座分别固定于所述光学平台，所述第一支座与所述第二支座平行，所述第一支座设有第一基准面以及第二基准面，所述第二支座设有第三基准面以及第四基准面，所述芯轴安装于所述第一支座以及所述第二支座，并与所述第一基准面以及所述第三基准面抵触，所述导轨安装于所述第一支座以及所述第二支座，并与所述第二基准面以及所述第四基准面抵触，多个所述支撑销安装于所述导轨，所述支撑销端部与所述芯轴相切配合以调节所述支撑销相对所述导轨的位置，所述锁紧件将调节位置后的支撑销锁紧于所述导轨。

进一步的，所述芯轴与所述第一基准面以及所述第三基准面相切。

进一步的，所述第一基准面以及所述第三基准面均呈V形。

进一步的，所述第一支座包括第一主体以及第二紧固件，所述第一基准面设置于所述第一主体，所述第二紧固件转动安装于所述第一主体，所述第二紧固件端部与所述芯轴抵触使所述芯轴固定于所述第一支座。

进一步的，所述第二紧固件的延伸方向与所述芯轴的轴向垂直。

进一步的，所述导轨与所述第二基准面以及所述第四基准面贴合。

进一步的，所述第二基准面以及所述第四基准面均包括至少两相互垂直的平面。

进一步的，所述第一支座包括第一主体以及第三紧固件，所述第二基准面设置于所述第一主体，所述第三紧固件转动安装于所述第一主体，所述第三紧固件端部与所述导轨抵触使所述导轨固定于所述第一支座。

本发明的目的之二采用如下技术方案实现：