[发明专利]检测电芯缺陷的方法、装置和计算机可读存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种检测电芯缺陷的方法、装置和计算机可读存储介质，其中，方法包括：根据第一预设阈值确定电芯图像中电芯主体的第一分割图；根据第二预设阈值确定电芯图像中极耳的第二分割图，其中，第二预设阈值小于第一预设阈值；根据第一分割图和第二分割图，确定电芯的缺陷情况。由此，能够完整地获取电芯的图像信息，从而准确地检测出电芯的缺陷。

技术领域

本申请涉及电芯检测领域，更为具体地，涉及一种检测电芯缺陷的方法、装置和计算机可读存储介质。

背景技术

随着图像处理技术的发展，越来越多的图像处理技术被应用到工业检测中。例如，根据电芯图像确定电芯的缺陷情况。

然而，在检测电芯的过程中，由于受到环境光线的影响，使得电芯图像的部分区域出现过暗的情况，从而难以完整地获取电芯的图像信息，并准确地检测出电芯的缺陷。

发明内容

本申请实施例提供了一种检测电芯缺陷的方法、装置和计算机可读存储介质，能够完整地获取电芯的图像信息，从而准确地检测出电芯的缺陷。

第一方面，提供了一种检测电芯缺陷的方法，包括：根据第一预设阈值确定电芯图像中电芯主体的第一分割图；根据第二预设阈值确定电芯图像中极耳的第二分割图，其中，第二预设阈值小于第一预设阈值；根据第一分割图和第二分割图，确定电芯的缺陷情况。

在本申请实施例中，由于第一预设阈值大于第二预设阈值，则根据第一预设阈值确定的第一分割图像包含了电芯图像中较亮的区域(电芯主体)的图像信息，根据第二预设阈值确定的第二分割图像包含了电芯图像中较暗的区域(极耳)的图像信息，第一分割图像和第二分割图像分别包含了电芯不同部位的图像信息，由此，根据第一分割图和第二分割图的图像信息能够有效地检测出电芯的缺陷情况。

在一些可能的实施方式中，根据第一分割图和第二分割图，确定电芯的缺陷情况，包括：根据第一分割图和第二分割图，确定电芯的整体图，其中，整体图包括电芯主体和极耳；根据整体图，确定电芯的缺陷情况。

在本申请实施例中，由于整体图中包含了电芯主体和极耳两部分的信息，能够更有效地根据整体图中电芯主体和极耳两部分的信息确定电芯的缺陷情况。

在一些可能的实施方式中，根据整体图，确定电芯的缺陷情况，包括：根据整体图，确定极耳的拐点的信息，其中，极耳的拐点为极耳与电芯主体连接线的端点；根据极耳的拐点的信息，确定电芯的缺陷情况。

在本申请实施例中，由于整体图中极耳拐点与电芯主体的位置关系更加稳定和直观，以及整体图中的极耳的拐点的位置与电芯产生缺陷的位置的关联度高，则根据极耳的拐点的信息能够有效且准确地确定电芯的缺陷。

在一些可能的实施方式中，根据整体图，确定极耳的拐点的信息，包括：根据整体图，确定第一方向上的像素和的统计图，其中，第一方向垂直于所述电芯主体的第一边缘线的方向，其中，电芯主体的第一边缘线为整体图中电芯主体的靠近极耳一端的边缘线；根据第一方向上的像素和的统计图，确定极耳的拐点的信息。

在本申请实施例中，由于整体图在第一方向上的像素和的统计图能够直观便捷地反映出电芯的高度信息，且极耳的拐点的两侧具有明显的高度差，则通过第一方向上的像素和的统计图确定极耳的拐点的信息，能够简单有效地获取极耳的拐点的信息。

在一些可能的实施方式中，根据第一方向上的像素和的统计图，确定极耳的拐点的信息，包括：根据第一目标区域的第一方向上的像素和的第一统计图，确定极耳的拐点的信息，其中，第一目标区域为整体图中电芯主体的第一边缘线到整体图的第一边界线之间的区域，整体图的第一边界线为整体图的靠近极耳一端的边界线。

在本申请的实施例中，由于第一目标区域包含了极耳与第一边缘线的高度信息，不涵盖电芯主体的宽度信息，则第一统计图可以更直观地反映出极耳的高度信息，从而更加有效地确定极耳的拐点的信息。