[发明专利]一种RRAM的读取电路及读取方法有效
申请号: | 202211155750.7 | 申请日: | 2022-09-22 |
公开(公告)号: | CN115527586B | 公开(公告)日: | 2023-03-10 |
发明(设计)人: | 许晓欣;赖锦茹;孙文绚;郑旭;董大年;余杰;樊邵阳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G11C16/04 | 分类号: | G11C16/04;G11C16/26 |
代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人: | 庞许倩 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 rram 读取 电路 方法 | ||
1.一种RRAM读取电路,其特征在于:所述RRAM读取电路包括:RRAM单元、放大器、反相器;
RRAM单元的源线一端和放大器正输入端连接,另一端用于输入读取电压,RRAM单元的位线和放大器负输入端连接;
放大器,用于检测并放大同时刻位线和源线上的电压差异,并将放大后的信号输出至反相器的输入端;
反相器,用于将输入端的高电平信号/低电平信号转变为0/1输出,所述反相器的输出端作为读取电路的输出端,输出RRAM存储的数据。
2.根据权利要求1所述的一种RRAM读取电路,其特征在于:RRAM单元包括一个晶体管T和一个RRAM,所述晶体管T的源极连接源线,栅极连接字线,漏极连接RRAM的一端,RRAM的另一端连接位线。
3.根据权利要求2所述的一种RRAM读取电路,其特征在于:所述反相器包括一个P型场效应晶体管和一个N型场效应晶体管,P型场效应晶体管的漏端与N型场效应晶体管的漏端相连接,作为反相器的输出端,两个晶体管的栅极相连作为反相器的输入端;P型场效应晶体管的源端接高电平VDD,N型场效应晶体管的源端接低电平GND。
4.根据权利要求3所述的一种RRAM读取电路,其特征在于:所述RRAM位线上存在寄生电容,所述寄生电容的连接方式可以等效为:寄生电容的一端连接RRAM的另一端,寄生电容的另一端接地。
5.根据权利要求4所述的一种RRAM读取电路,其特征在于:所述字线用于控制晶体管T的栅极。
6.根据权利要求5所述的一种RRAM读取电路,其特征在于:所述RRAM是一个具有记忆功能的可变电阻。
7.根据权利要求1-6所述的一种RRAM读取电路的读取方法,其特征在于:包括以下步骤:
对RRAM单元的源线施加读取电压,同时通过施加字线电压使晶体管T导通,读取电压对位线上的寄生电容充电,存储不同信息的RRAM单元产生不同的RC延迟,同一读取时刻位线电压也会不同;
源线上的读取电压和位线电压输入放大器后,经放大器放大、反相器反相后,所述反相器输出RRAM单元存储信息。
8.根据权利要求7所述的读取方法,其特征在于:在对RRAM单元的源线施加读取电压之前还包括如下步骤:向RRAM单元写入信息“0”或“1”;
所述向RRAM单元写入信息“0”或“1”包括:
字线接入高电平,使得晶体管T导通;
对RRAM单元的源线和位线分别接高电平和低电平时,RRAM为低阻态,写入信息“1”;
对RRAM单元的源线和位线分别接低电平和高电平时,RRAM为高阻态,单元写入信息“0”。
9.根据权利要求8所述的读取方法,其特征在于:所述RC延迟受RRAM阻值影响,RRAM阻值越大,RC延迟越大,位线电压上升越慢;反之,RRAM阻值越小,RC延迟越小,位线电压上升越快。
10.根据权利要求9所述的读取方法,其特征在于:所述读取电压为脉冲电压,所述读取电压小于写入电压。
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