[发明专利]电路板卡的老化测试装置及方法

权利要求书

1.一种电路板卡的老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置包括控制器、分别与所述控制器通信连接的老化处理模块、参数监控模块和散热模块，所述老化处理模块与所述电路板卡电连接；

所述老化处理模块用于根据所述控制器配置的设定功率参数提供所述电路板卡信号激励；

所述参数监控模块用于获取所述电路板卡的实际工作参数，所述实际工作参数包括所述电路板卡的实际工作温度并发送至所述控制器；

所述控制器用于在所述实际工作温度超出设定温度范围时，控制所述老化处理模块和/或所述散热模块的工作状态，直至将所述电路板卡的实际工作温度调节至所述设定温度范围内。

2.根据权利要求1所述的电路板卡的老化测试装置，其特征在于，所述控制器还用于将所述实际工作温度参数按时间序列输入预设滤波拟合模型，输出滤除干扰的实际工作温度参数，所述控制器基于所述滤除干扰的实际工作温度参数判断所述电路板卡的实际工作温度是否超出设定温度范围。

3.根据权利要求1所述的电路板卡的老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置还包括噪声滤波模块，所述噪声滤波模块与所述控制器通信连接；

所述噪声滤波模块用于采集所述电路板卡的环境噪声信号并发送至所述控制器；

所述控制器还用于将所述环境噪声信号输入至预设环境噪声拟合模型，并基于所述预设环境噪声拟合模型滤出异常环境噪声信号，基于异常环境噪声信号判断所述老化测试装置是否运行正常。

4.根据权利要求3所述的电路板卡的老化测试装置，其特征在于，所述预设环境噪声拟合模型通过自适应滤波算法构建得到。

5.根据权利要求3所述的电路板卡的老化测试装置，其特征在于，所述控制器还用于在所述环境噪声信号异常时长超出预设噪声异常时长时，控制所述老化处理模块停止向所述电路板提供信号激励。

6.根据权利要求1所述的电路板卡的老化测试装置，其特征在于，所述控制器还用于控制所述老化处理模块配置所述电路板卡在第一额定功率下工作，在所述电路板卡实际工作温度超出温度阈值时，控制提高所述散热模块的输出功率；

所述控制器还用于在所述散热模块的输出功率到达第二额定功率时，所述参数监控模块在设定时间内得到的所述电路板卡的所述实际工作温度仍超出所述设定温度范围，则降低所述老化处理模块向所述电路板卡提供的功率配置以减少信号激励。

7.根据权利要求6所述的电路板卡的老化测试装置，其特征在于，所述控制器还用于在所述老化处理模块向所述电路板卡提供的功率配置以减少信号激励后，若在第二预设时长内所述电路板实际工作温度仍超出温度阈值时，控制所述老化处理模块停止向所述电路板提供信号激励。

8.根据权利要求3至7中任一所述的电路板卡的老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置还包括显示模块，所述显示模块与所述控制器连接；

所述控制器还用于在所述电路板实际工作温度超出温度阈值和/或所述环境噪声信号发生异常时，生成所述电路板卡发生异常的异常提醒信息并控制所述显示模块进行显示；和/或，

所述显示模块还用于显示所述电路板的所述实际工作参数和/或所述环境噪声信号。

9.根据权利要求8所述的电路板卡的老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置还包括数据存储模块，所述数据存储模块与所述控制器连接；

所述数据存储模块，用于存储所述电路板卡的所述实际工作参数和/或所述电路板卡工作状态发生异常时的异常数据。

10.一种电路板卡的老化测试方法，其特征在于，利用权利要求1至9中任一所述的电路板卡老化测试装置实现，所述老化测试方法包括：

根据所述控制器配置的设定功率参数提供所述电路板卡信号激励；

获取所述电路板卡的实际工作参数，所述实际工作参数包括所述电路板卡的实际工作温度并发送至所述控制器；

在所述实际工作温度超出设定温度范围时，控制所述老化处理模块和/或所述散热模块的工作状态，直至将所述电路板卡的实际工作温度调节至所述设定温度范围内。