[发明专利]电路板卡的老化测试装置及方法

说明书

本发明公开了一种电路板卡的老化测试装置及方法。该老化测试装置包括控制器、分别与所述控制器通信连接的老化处理模块、参数监控模块和散热模块，老化处理模块与电路板卡电连接；老化处理模块用于根据控制器配置的设定功率参数提供电路板卡信号激励；参数监控模块用于获取电路板卡的实际工作参数，实际工作参数包括电路板卡的实际工作温度并发送至控制器；控制器用于在实际工作温度超出设定温度范围时，控制老化处理模块和/或散热模块的工作状态，直至将电路板卡的实际工作温度调节至设定温度范围内。本发明为板卡提供信号激励和测试环境，实现电路板卡的带电老化试验，并通过得到多样化的参数数据，实现对电路板卡老化的精准测试。

技术领域

本发明涉及老化测试技术领域，尤其是一种电路板卡的老化测试装置及方法。

背景技术

Distributed Control System(简称DCS)即分布式控制系统广泛应用于高端工控领域，在DCS系统中的电路板卡起到了连接DCS控制器和现场电气设备的关键作用。电站DCS系统板卡测试具有高可靠性、高测试覆盖率要求，电路板卡能够正常稳定工作，直接影响整个仪控系统的工作稳定性。

老化测试能通过高温或其他方法对产品施加环境应力，可以发现产品常规监测手段无法发现的潜在缺陷。因此市场需要一种用于电路板卡的老化测试装置。

另一方面，现有的老化测试装置中被测试产品仅被置于高温或其他环境应力中，并不在测试环境中进行工作状态的测试，得到测试结果单一，无法完全暴露复杂工作环境下的被测产品的缺陷。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中电路板卡缺少老化测试装置，且现有老化测试装置功能单一的缺陷，提供一种电路板卡的老化测试装置及方法。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

第一方面提供一种电路板卡的老化测试装置，所述老化测试装置包括控制器、分别与所述控制器通信连接的老化处理模块、参数监控模块和散热模块，所述老化处理模块与所述电路板卡电连接；

所述老化处理模块用于根据所述控制器配置的设定功率参数提供所述电路板卡信号激励；

所述参数监控模块用于获取所述电路板卡的实际工作参数，所述实际工作参数包括所述电路板卡的实际工作温度并发送至所述控制器；

所述控制器用于在所述实际工作温度超出设定温度范围时，控制所述老化处理模块和/或所述散热模块的工作状态，直至将所述电路板卡的实际工作温度调节至所述设定温度范围内。

较佳地，所述控制器还用于将所述实际工作温度参数按时间序列输入预设滤波拟合模型，输出滤除干扰的实际工作温度参数，所述控制器基于所述滤除干扰的实际工作温度参数判断所述电路板卡的实际工作温度是否超出设定温度范围。

较佳地，所述老化测试装置还包括噪声滤波模块，所述噪声滤波模块与所述控制器通信连接；

所述噪声滤波模块用于采集所述电路板卡的环境噪声信号并发送至所述控制器；

所述控制器还用于将所述环境噪声信号输入至预设环境噪声拟合模型，并基于所述预设环境噪声拟合模型的滤出异常环境噪声信号，基于异常环境噪声信号判断所述老化测试装置是否运行正常；

所述噪声滤波模块用于采集所述电路板卡的环境噪声信号并发送至所述控制器；

所述控制器还用于将所述环境噪声信号输入至预设环境噪声拟合模型，并基于所述预设环境噪声拟合模型的输出结果判断所述环境噪声信号是否发生异常；

在所述环境噪声信号发生异常时，则确定所述电路板卡发生过温，并生成调节指令以增加所述散热模块的输出功率。

较佳地，所述预设环境噪声拟合模型通过自适应滤波算法构建得到。