[发明专利]显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质在审
申请号: | 202211160511.0 | 申请日: | 2022-09-22 |
公开(公告)号: | CN115578956A | 公开(公告)日: | 2023-01-06 |
发明(设计)人: | 林代翔 | 申请(专利权)人: | 乐金显示光电科技(中国)有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 杨义 |
地址: | 510530 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 不良 像素 检测 方法 装置 设备 介质 | ||
1.一种显示面板不良像素点的检测方法,其特征在于,包括:
获取所述待测像素点的位置信息;
基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点是否为边沿像素点;
若是,基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点,获取所述相邻像素点、所述增加像素点和所述待测像素点的亮度,将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点;其中,所述相邻像素点和所述增加像素点的数量之和不少于4个;
若否,基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点,获取所述相邻像素点和所述待测像素点的亮度,将所述相邻像素点与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点。
2.根据权利要求1所述的显示面板不良像素点的检测方法,其特征在于,所述增加像素点与所述待测像素点的距离小于预设距离。
3.根据权利要求2所述的显示面板不良像素点的检测方法,其特征在于,所述预设距离大于两个相邻的像素点的两倍间距且小于两个相邻的像素点的三倍间距。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的显示面板不良像素点的检测方法,其特征在于,所述增加像素点包括第一增加点;
所述第一增加点与所述待测像素点具有两个相同的所述相邻像素点。
5.根据权利要求4所述的显示面板不良像素点的检测方法,其特征在于,所述增加像素点还包括第二增加点;
所述第二增加点位于所述待测像素点的上、下、左、右四个方向中的至少一个,且与所述待测像素点具有一个相同的所述相邻像素点。
6.根据权利要求5所述的显示面板不良像素点的检测方法,其特征在于,所述基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点,包括:
基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点是否为边角像素点;
若否,将位置信息与所述待测像素点的位置信息相邻的像素点确定为相邻像素点,且基于所述待测像素点的位置信息确定第一增加点,其中,所述第一增加点的数量为两个;
若是,将位置信息与所述待测像素点的位置信息相邻的像素点确定为相邻像素点,且基于所述待测像素点的位置信息确定第一增加点和第二增加点;其中,所述第一增加点的数量为一个,所述第二增加点的数量为两个。
7.根据权利要求1至3中任一项所述的显示面板不良像素点的检测方法,其特征在于,所述将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点之前,还包括:
确定所述相邻像素点和所述增加像素点是否存在不良像素点;
若否,执行将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点的步骤;
若是,剔除所述相邻像素点和所述增加像素点中的不良像素点,相应的,所述将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点,包括:
将剔除不良像素点的所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点。
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