[发明专利]显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质在审
申请号: | 202211160511.0 | 申请日: | 2022-09-22 |
公开(公告)号: | CN115578956A | 公开(公告)日: | 2023-01-06 |
发明(设计)人: | 林代翔 | 申请(专利权)人: | 乐金显示光电科技(中国)有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 杨义 |
地址: | 510530 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 不良 像素 检测 方法 装置 设备 介质 | ||
本发明公开一种显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质。该显示面板不良像素点的检测方法包括:获取待测像素点的位置信息;基于待测像素点的位置信息确定待测像素点是否为边沿像素点;若是,基于待测像素点的位置信息确定待测像素点的相邻像素点和增加像素点,获取相邻像素点、增加像素点和待测像素点的亮度,将相邻像素点和增加像素点的亮度与待测像素点的亮度进行对比以确定待测像素点是否为不良像素点;其中,相邻像素点和增加像素点的数量之和不少于4个。通过采用上述方案,解决了现有的不良像素点的检测方法准确性较差的问题,增加了检查的准确性和可靠性。
技术领域
本发明涉及显示面板生产的技术领域,尤其涉及显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质。
背景技术
像素点是显示面板的显示画面的最小发光单元。在生产工序如果存在异常状态可能会导致显示面板上产生不良像素点,不良像素点会影响显示面板的显示性能,因此,检出显示面板上的不良像素点至关重要。
现有技术中,对不良像素点的检测通常采用以下方法:如图1所示,对于任意一个待测像素点1,通过其与上下左右四个相邻像素点2进行亮度对比,从而检查出该待测像素点1是否为不良像素点。如图2和图3所示,但是对于显示面板边沿的像素点,通常没有上下左右等四个相邻像素点2,只有三个相邻像素点2或者两个相邻像素点2进行对比。例如对于两个边沿相接的边角处的待测像素点1,只有两个相邻像素点2进行对比。如图2所示,图2中以待测像素点1处于右下角处的边角为例,此时相邻像素点2只有上方和左方的两个相邻像素点2。对于边角以外的其余边沿处的像素点,只有三个相邻像素点2进行对比,如图3所示,图3中以待测像素点1位于右边沿且不为边角处为例,此时待测像素点1的相邻像素点2只有上下左三个相邻像素点2进行对比。现有技术存在以下缺陷:对于边沿处的像素点而言,对比像素点的减少会导致检出能力的下降,故现有的不良像素点的检测方法准确性较差。
发明内容
本发明提供了一种显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质,以解决现有的不良像素点的检测方法准确性较差的问题。
根据本发明的一方面,提供了一种显示面板不良像素点的检测方法,该显示面板不良像素点的检测方法包括:
获取所述待测像素点的位置信息;
基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点是否为边沿像素点;
若是,基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点,获取所述相邻像素点、所述增加像素点和所述待测像素点的亮度,将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点;其中,所述相邻像素点和所述增加像素点的数量之和不少于4个;
若否,基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点,获取所述相邻像素点和所述待测像素点的亮度,将所述相邻像素点与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点。
在本发明的可选实施例中,所述增加像素点与所述待测像素点的距离小于预设距离。
在本发明的可选实施例中,所述预设距离大于两个相邻的像素点的两倍间距且小于两个相邻的像素点的三倍间距。
在本发明的可选实施例中,所述增加像素点包括第一增加点;
所述第一增加点与所述待测像素点具有两个相同的所述相邻像素点。
在本发明的可选实施例中,所述增加像素点还包括第二增加点;
所述第二增加点位于所述待测像素点的上、下、左、右四个方向中的至少一个,且与所述待测像素点具有一个相同的所述相邻像素点。
在本发明的可选实施例中,所述基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点,包括:
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