[发明专利]瓦楞纸箱跌落仿真方法、装置、终端设备以及存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种瓦楞纸箱跌落仿真方法、装置、终端设备以及存储介质，方法包括：建立瓦楞纸处于展开状态下的第一3D模型；对第一3D模型进行纸箱折叠过程的仿真，得到与瓦楞纸箱相对应的第二3D模型，第二3D模型包括瓦楞纸在折叠过程中所产生的褶皱特征以及瓦楞纸的材料性能参数，且材料性能参数随瓦楞纸的几何形状变化；获取产品模型以及缓冲部件模型，将产品模型和缓冲部件模型与第二3D模型进行组合，得到目标3D模型；对目标3D模型进行跌落仿真测试，得到瓦楞纸箱的跌落损伤分析结果。本发明实施例解决了现有技术中对瓦楞纸箱的跌落仿真测试的准确性低下的技术问题。

技术领域

本申请实施例涉及仿真领域，尤其涉及一种瓦楞纸箱跌落仿真方法、装置、终端设备以及存储介质。

背景技术

在产品出厂后，为了对产品进行保护，在产品的运输过程中一般都会对产品进行包装，目前一般采用瓦楞纸箱对产品进行包装。然而瓦楞纸箱的包装需要进行跌落测试来改进，确保其能够全面保护产品。目前在对瓦楞纸箱进行跌落仿真测试的过程中，忽略了瓦楞纸箱几何特性和各向异性材料特性，同时也未考虑瓦楞纸箱边角处的褶皱等几何特征与材料特征，导致瓦楞纸箱的跌落仿真测试的结果无法贴近真实的跌落情况，跌落仿真测试的准确性低下。

发明内容

本发明实施例提供了一种瓦楞纸箱跌落仿真方法、装置、终端设备以及存储介质，解决了现有技术中对瓦楞纸箱的跌落仿真测试的准确性低下的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种瓦楞纸箱跌落仿真方法，包括：

建立瓦楞纸处于展开状态下的第一3D模型；

对所述第一3D模型进行纸箱折叠过程的仿真，得到与瓦楞纸箱相对应的第二3D模型，所述第二3D模型包括所述瓦楞纸在折叠过程中所产生的褶皱特征以及所述瓦楞纸的材料性能参数，且所述材料性能参数随所述瓦楞纸的几何形状变化；

获取产品模型以及缓冲部件模型，将所述产品模型和所述缓冲部件模型与所述第二3D模型进行组合，得到目标3D模型；

对所述目标3D模型进行跌落仿真测试，得到所述瓦楞纸箱的跌落损伤分析结果。

第二方面，本发明实施例提供了一种瓦楞纸箱跌落仿真装置，包括：

第一模型建立模块，用于建立瓦楞纸处于展开状态下的第一3D模型；

第二模型建立模块，用于对所述第一3D模型进行纸箱折叠过程的仿真，得到与瓦楞纸箱相对应的第二3D模型，所述第二3D模型包括所述瓦楞纸在折叠过程中所产生的褶皱特征以及所述瓦楞纸的材料性能参数，且所述材料性能参数随所述瓦楞纸的几何形状变化；

纸箱装配模块，用于获取产品模型以及缓冲部件模型，将所述产品模型和所述缓冲部件模型与所述第二3D模型进行组合，得到目标3D模型；

跌落仿真模块，对所述目标3D模型进行跌落仿真测试，得到所述瓦楞纸箱的跌落损伤分析结果。

第三方面，本发明实施例提供了一种终端设备，所述终端设备包括处理器以及存储器；

所述存储器用于存储计算机程序，并将所述计算机程序传输给所述处理器；

所述处理器用于根据所述计算机程序中的指令执行如第一方面所述的一种瓦楞纸箱跌落仿真方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种存储计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如第一方面所述的一种瓦楞纸箱跌落仿真方法。