[发明专利]一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置在审
申请号: | 202211170456.3 | 申请日: | 2022-09-22 |
公开(公告)号: | CN115509387A | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
发明(设计)人: | 闫俊超;张喆尧 | 申请(专利权)人: | 北京奕斯伟计算技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张润 |
地址: | 101102 北京市大兴区北京经*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 获取 触摸 轨迹 凹凸 特征 方法 及其 装置 | ||
1.一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法,其特征在于,包括:
在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点;
根据所述上一轨迹区间的触摸点和所述当前轨迹区间的触摸点,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别;
根据所述当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述上一轨迹区间的触摸点和所述当前轨迹区间的触摸点,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别,包括:
以上一个轨迹区间的结束触摸点作为当前轨迹区间的起始触摸点;
获取所述当前轨迹区间当前的待识别触摸点的第一位置;
根据所述第一位置和所述起始触摸点的第二位置,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一位置和所述起始触摸点的第二位置,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别,包括:
确定所述当前轨迹区间的拟合端点在第一坐标轴上的第一拟合坐标值,以及所述拟合端点对应的参考触摸点在所述第一坐标轴上的目标坐标值;
根据所述拟合坐标值和所述目标坐标值,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述拟合端点的所述第一拟合坐标值的确定过程,包括:
确定所述第一位置中所述第一坐标轴上的第一坐标值和所述第二位置中的所述第一坐标轴上的第二坐标值;
基于预设的凹凸性计算系数,对所述第一坐标值和所述第二坐标值进行线性拟合,得到所述拟合端点的所述第一拟合坐标值。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述参考点的所述目标坐标值的确定过程,包括:
确定所述第一位置中的第二坐标轴上的第三坐标值和所述第二位置中的所述第二坐标轴上的第四坐标值;
基于预设的凹凸性计算系数,对所述第三坐标值和所述第四坐标值进行线性拟合,得到所述拟合端点在所述第二坐标轴上的第二拟合坐标值;
根据所述第二拟合坐标值,查询历史触摸点的位置,以获取所述参考触摸点的所述目标坐标值。
6.根据权利要求2-5中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一拟合坐标值和所述目标坐标值,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别,包括:
判断所述第一拟合坐标值是否大于或者等于所述目标坐标值;
响应于所述第一拟合坐标值大于或等于所述目标坐标值,确定所述当前轨迹段的凹凸性为凸;
响应于所述第一拟合坐标值小于所述目标坐标值,确定所述当前轨迹区间的凹凸性为凹。
7.根据权利要求2-5中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一位置和所述第二位置,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别之前,还包括:
根据所述第一位置和所述第二位置,获取两个触摸点间的第一距离,并确定所述第一距离大于预设的距离阈值。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在获取所述待识别触摸点的第一位置之后,判断所述待识别触摸点是否为抬起状态;
响应于所述待识别触摸点未处于抬起状态,继续执行所述根据所述第一位置和所述第二位置,获取两个触摸点间的第一距离;
响应于所述待识别触摸点处于抬起状态,结束凹凸性识别流程。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新,包括:
获取轨迹跟踪过程中当前已进行的凹凸性识别次数,确定所述当前轨迹区间对应的第一标识;
建立所述第一标识和所述当前轨迹区间的凹凸性的第一关联关系,并将所述第一关联关系更新到第一轨迹凹凸特征集中。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京奕斯伟计算技术股份有限公司,未经北京奕斯伟计算技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211170456.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。