[发明专利]一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置在审

专利信息
申请号: 202211170456.3 申请日: 2022-09-22
公开(公告)号: CN115509387A 公开(公告)日: 2022-12-23
发明(设计)人: 闫俊超;张喆尧 申请(专利权)人: 北京奕斯伟计算技术股份有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张润
地址: 101102 北京市大兴区北京经*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 获取 触摸 轨迹 凹凸 特征 方法 及其 装置
【说明书】:

本申请提出一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置,属于触控技术领域。其中,该获取触摸轨迹凹凸特征的方法包括:在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点;根据上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点,对当前轨迹区间的凹凸性进行识别;根据当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。本申请通过历史触摸点和当前触摸点,可以识别当前轨迹区间的凹凸性,也就是实现了对触摸轨迹的分段式凹凸性识别,进而有利于提出触摸轨迹的凹凸特征,丰富了特征信息的种类,有利于提高后续轨迹预测或者轨迹分类的精准性。

技术领域

本申请涉及触控技术领域,尤其涉及一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置。

背景技术

当前对于触摸轨迹的特征提取,主要提取触摸位置、触摸面积等特征信息,这些特征信息的提取对于复杂的触摸轨迹,如曲线型的触摸轨迹,大手掌的触摸轨迹,无法精准识别。

发明内容

本申请实施例提供一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置。

本申请第一方面实施例提出了一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法,包括:

在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点;

根据所述上一轨迹区间的触摸点和所述当前轨迹区间的触摸点,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别;

根据所述当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。

本申请实施例中,在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点,根据上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点,对当前轨迹区间的凹凸性进行识别,并且根据当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。本申请实施例中,通过历史触摸点和当前触摸点,可以识别当前轨迹区间的凹凸性,也就是实现了对触摸轨迹的分段式凹凸性识别,进而有利于提出触摸轨迹的凹凸特征,丰富了特征信息的种类,有利于提高后续轨迹预测或者轨迹分类的精准性。

本申请第二方面实施例提出了一种获取触摸轨迹凹凸特征的装置,包括:

获取模块,用于在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点;

识别模块,用于根据所述上一轨迹区间的触摸点和所述当前轨迹区间的触摸点,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别;

更新模块,用于根据所述当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。

本申请第三方面实施例提出了一种电子设备,包括:本申请第二方面实施例提出的获取触摸轨迹凹凸特征的装置。

本申请第四方面实施例提出了一种触控芯片,包括:处理器;用于存储所述处理器可执行指令的存储器;其中,所述处理器被配置为执行所述指令,以实现本申请第一方面实施例提出的获取触摸轨迹凹凸特征的方法。

本申请第五方面实施例提出了一种非临时性计算机可读存储介质,当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得电子设备能够执行本申请第一方面实施例提出的获取触摸轨迹凹凸特征的方法。

本申请第六方面实施例提出了一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序在被通信设备中的处理器执行时实现本申请第一方面实施例提出的获取触摸轨迹凹凸特征的方法。

本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:

图1为本申请实施例所提供的一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法的流程示意图;

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