[发明专利]测试电路和测试方法在审

专利信息
申请号: 202211170703.X 申请日: 2022-09-23
公开(公告)号: CN116008759A 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 吉田满 申请(专利权)人: 富士电机株式会社
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 俞丹;宋俊寅
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测试 电路 方法
【权利要求书】:

1.一种测试电路,在进行开关元件的测试时使用,其特征在于,包括:

输入用于导通关断所述开关元件的驱动信号的第一端子;

连接到所述开关元件的接地侧电极的第二端子;

连接到所述开关元件的控制电极的第三端子;

连接到所述开关元件的电源侧电极的第四端子;以及

连接到所述第二端子和所述第四端子之间的钳位电路,

当基于所述驱动信号导通所述开关元件时,所述钳位电路将所述第三端子的电压设为高于所述开关元件的阈值的第一电压,

当基于所述驱动信号关断所述开关元件时,所述钳位电路将所述第四端子的电压钳位为低于所述开关元件的耐压的第二电压,同时将所述第三端子的电压设定为在所述阈值和所述第一电压之间的第三电压。

2.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,

所述钳位电路包括:

设置在所述第四端子和所述第三端子之间以便将所述第四端子的电压钳位为所述第二电压的第一二极管;以及

设置在所述第一二极管和所述第二端子之间的第一电阻。

3.如权利要求2所述的测试电路,其特征在于,

具有第二二极管,该第二二极管的阳极连接到所述第一二极管的阳极侧,该第二二极管的阴极连接到所述第三端子。

4.如权利要求3所述的测试电路,其特征在于,

具有连接到所述第二二极管的所述阴极与所述第一电阻之间的第二电阻。

5.如权利要求2至4中任一项所述的测试电路,其特征在于,包括:

与所述第一二极管并联连接且耐压与所述第一二极管不同的第三二极管;以及

用于将所述第一二极管或所述第三二极管连接到所述第四端子的连接电路。

6.如权利要求2至4中任一项所述的测试电路,其特征在于,包括:

与所述第一二极管串联连接的第四二极管;以及

至少与所述第一二极管并联连接的开关。

7.如权利要求1至6中任一项所述的测试电路,其特征在于,包括:

施加电源电压的第五端子;以及

设置在所述第五端子与所述开关元件的所述电源侧电极之间的线圈。

8.一种测试方法,利用测试电路进行开关元件的测试,其特征在于,

所述测试电路包括:

输入用于导通关断所述开关元件的驱动信号的第一端子;

连接到所述开关元件的接地侧电极的第二端子;

连接到所述开关元件的控制电极的第三端子;

连接到所述开关元件的电源侧电极的第四端子;以及

连接在所述第二端子和所述第四端子之间的钳位电路,该钳位电路具有用于钳位所述第四端子的电压的第一二极管、以及设置在所述第一二极管和所述第二端子之间的第一电阻,

所述测试方法包括:

进行静耐压测试以评估所述开关元件的耐压的第一测试步骤;

基于所述静耐压测试的结果选定所述第一二极管以使得所述第四端子的电压低于所述开关元件的所述耐压的选定步骤;以及

使用选定的所述第一二极管进行所述测试的第二测试步骤。

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