[发明专利]测量基准获取方法、装置、存储介质及设备

权利要求书

1.一种测量基准获取方法，其特征在于，包括以下步骤：

根据若干观测点的预设观测点顺序，依次从可选基准点集合中确定距离各观测点最近的若干目标基准点，以获得包括若干所述基准点的目标基准点集合；其中，所述预设观测点顺序为按照若干观测点的测量容差由小到大的顺序，所述测量容差根据所述观测点的工艺容差与所述观测点的理论测量误差获得；

剔除所述目标基准点集合中重复的目标基准点，获得第一目标基准点集合；

在所述第一目标基准点集合中根据所述目标基准点添加的先后顺序，获得若干建站基准点。

2.根据权利要求1所述的测量基准获取方法，其特征在于，所述在所述第一目标基准点集合中根据所述基准点添加的先后顺序，获得若干建站基准点之后，所述测量基准获取方法还包括：

判断所述建站基准点的个数是否满足建站需要；若否，则执行：

获得所述观测点到所述建站基准点的距离之和；

判断任意两个所述观测点到所述建站基准点的距离之和以及其对应的测量容差是否满足相同的大小关系；

根据判断的结果，获得第一建站基准点。

3.根据权利要求2所述的测量基准获取方法，其特征在于，所述根据判断的结果，获得第一建站基准点，包括：

根据为是的判断结果，返回所述根据若干观测点的预设观测点顺序，依次从可选基准点集合中确定距离各观测点最近的若干目标基准点，以获得包括若干所述基准点的目标基准点集合的步骤，直至所述判断所述建站基准点的个数是否满足建站需要的判断结果为是，获得第一建站基准点。

4.根据权利要求2所述的测量基准获取方法，其特征在于，所述根据判断的结果，获得第一建站基准点，包括：

根据为否的判断结果，获得所有相邻观测点组；

根据所述观测点测量容差由小到大的顺序，依次判断所述相邻观测点组是否满足两个所述观测点到所述建站基准点的距离之和以及其对应的测量容差是否满足相同的大小关系，获得目标相邻观测点组；其中，所述目标相邻观测点组为判断过程中首先不满足所述大小关系的所述相邻观测点组；

根据所述目标相邻观测点组，获得第一观测点；其中，所述第一观测点为所述目标相邻观测点组中测量容差小的所述观测点；

将所述可选基准点集合中距离所述第一观测点最近的所述基准点添加至所述目标基准点集合中，并返回所述剔除所述目标基准点集合中重复的所述目标基准点，获得第一目标基准点集合的步骤，直至所述判断所述建站基准点的个数是否满足建站需要的判断结果为是，获得第一建站基准点。

5.根据权利要求1所述的测量基准获取方法，其特征在于，所述根据若干观测点的预设观测点顺序，依次从可选基准点集合中确定距离各观测点最近的若干目标基准点，以获得包括若干所述基准点的目标基准点集合之前，所述测量基准获取方法还包括：

在测量现场设置所述基准点与所述观测点，并获得所述基准点与所述观测点之间的距离。

6.根据权利要求1所述的测量基准获取方法，其特征在于，所述根据若干观测点的预设观测点顺序，依次从可选基准点集合中确定距离各观测点最近的若干目标基准点，以获得包括若干所述基准点的目标基准点集合之前，所述测量基准获取方法还包括：

根据所述观测点的工艺容差与所述观测点的理论测量误差之差的绝对值，获得所述测量容差。

7.根据权利要求1所述的测量基准获取方法，其特征在于，所述根据若干观测点的预设观测点顺序，依次从可选基准点集合中确定距离各观测点最近的若干目标基准点，以获得包括若干所述基准点的目标基准点集合之前，所述测量基准获取方法还包括：

根据技术要求进行赋值，获得所述观测点的工艺容差。