[发明专利]测量基准获取方法、装置、存储介质及设备

说明书

本申请实施例公开了一种测量基准获取方法、装置、存储介质及设备，涉及数字化测量技术领域，包括：根据若干观测点的预设观测点顺序，依次从可选基准点集合中确定距离各观测点最近的若干目标基准点，以获得包括若干基准点的目标基准点集合；测量容差根据观测点的工艺容差与观测点的理论测量误差获得；剔除目标基准点集合中重复的目标基准点，获得第一目标基准点集合；在第一目标基准点集合中根据目标基准点添加的先后顺序，获得若干建站基准点。本申请充分考虑工艺容差与测量误差，兼顾各个观测点到基准点的综合距离，能够根据观测点的容差大小适应性选择基准点，降低使用环境对于基准点的影响，进而提升测量的精度。

技术领域

本申请涉及数字化测量技术领域，具体涉及一种测量基准获取方法、装置、存储介质及设备。

背景技术

航空制造业正不断向自动化、数字化、智能化方向发展，先进的数字化测量技术已广泛应用在飞机制造流程的诸多环节之中，发挥着监测、指导工艺过程等重要作用。

在大多数字化测量设备的使用中，需要通过设置在工装或工作空间中的基准点来建立坐标系之间的转换关系，由于测量设备存在一定的测量误差，并且基准点自身点位会受环境变化而产生波动，导致获取的基准点的精度较低，无法满足高精度测量要求。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种测量基准获取方法、装置、存储介质及设备，旨在解决现有技术中基准点的精度较低，无法满足高精度测量要求的问题。

为了上述目的，本申请的实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种测量基准获取方法，包括以下步骤：

根据若干观测点的预设观测点顺序，依次从可选基准点集合中确定距离各观测点最近的若干目标基准点，以获得包括若干基准点的目标基准点集合；其中，预设观测点顺序为按照若干观测点的测量容差由小到大的顺序，测量容差根据观测点的工艺容差与观测点的理论测量误差获得；

剔除目标基准点集合中重复的目标基准点，获得第一目标基准点集合；

在第一目标基准点集合中根据目标基准点添加的先后顺序，获得若干建站基准点。

在第一方面的一种可能实现方式中，在第一目标基准点集合中根据基准点添加的先后顺序，获得若干建站基准点之后，测量基准获取方法还包括：

判断建站基准点的个数是否满足建站需要；若否，则执行：

获得观测点到建站基准点的距离之和；

判断任意两个观测点到建站基准点的距离之和以及其对应的测量容差是否满足相同的大小关系；

根据判断的结果，获得第一建站基准点。

在第一方面的一种可能实现方式中，根据判断的结果，获得第一建站基准点，包括：

根据为是的判断结果，返回根据若干观测点的预设观测点顺序，依次从可选基准点集合中确定距离各观测点最近的若干目标基准点，以获得包括若干基准点的目标基准点集合的步骤，直至判断建站基准点的个数是否满足建站需要的判断结果为是，获得第一建站基准点。

在第一方面的一种可能实现方式中，根据判断的结果，获得第一建站基准点，包括：

根据为否的判断结果，获得所有相邻观测点组；

根据观测点测量容差由小到大的顺序，依次判断相邻观测点组是否满足两个观测点到建站基准点的距离之和以及其对应的测量容差是否满足相同的大小关系，获得目标相邻观测点组；其中，目标相邻观测点组为判断过程中首先不满足大小关系的相邻观测点组；

根据目标相邻观测点组，获得第一观测点；其中，第一观测点为目标相邻观测点组中测量容差小的观测点；