[发明专利]厚度测量方法、辊压机控制方法、装置及辊压机控制系统

说明书

本申请涉及一种厚度测量方法、辊压机控制方法、装置及辊压机控制系统。所述厚度测量方法包括：获取上辊轮和下辊轮的平均径向圆跳动、辊轮大小参数、辊轮材料特性参数、第一测距仪与第二测距仪的总距离；采集辊压物料过程中的辊轧力和弯辊力、第一测距仪在辊轮轴向上多个位置处与上辊轮之间的第一距离、第二测距仪在辊轮轴向上多个位置处与下辊轮之间的第二距离；根据辊轧力、弯辊力、平均径向圆跳动、辊轮大小参数和辊轮材料特性参数，计算上辊轮和下辊轮的平均厚度；根据总距离、第一距离、第二距离、上辊轮和下辊轮各自的平均厚度，计算被辊压的物料的实时厚度。采用本申请，可实现被辊压的物料的厚度的及时检测，提高厚度调节的精度。

技术领域

本申请涉及机械自动化技术领域，特别是涉及一种厚度测量方法、辊压机控制方法、装置及辊压机控制系统。

背景技术

辊压工序是采用辊压机对物料进行辊压处理的生产工艺段，是自动化生产中常见的一种工序；例如，极片在经过涂布、干燥后会进入辊压工序。目前市面上的辊压机一般包括上压辊、下压辊和设计于上下压辊末端的弯缸；物料从上压辊和下压辊之间经过、实现辊压，由控制器件控制上下压辊作用的辊轧力和弯缸作用的弯辊力。

为保证辊压效果，需要控制辊压的物料厚度。传统的控制模式为在辊压工序后段设置测厚仪，通过测厚仪测量辊压后物料的厚度，然后将辊压后物料的厚度反馈给控制器件，再由控制器件调整辊轧力和弯辊力，实现对之后待辊压段的厚度调节。这种控制模式无法测量辊压过程中物料的厚度，用已辊压完成的厚度去调节待辊压段的厚度存在较长时间的滞后，对厚度的调节精度会降低。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够实时测量厚度、提高厚度调节精度的厚度测量方法、辊压机控制方法、装置及辊压机控制系统。

一种厚度测量方法，包括：

获取辊压机的上辊轮和下辊轮的平均径向圆跳动，获取所述上辊轮和所述下辊轮的辊轮大小参数和辊轮材料特性参数，以及第一测距仪与第二测距仪在辊压厚度方向上的总距离；其中，所述第一测距仪设置于所述上辊轮背离所述下辊轮的一侧，所述第二测距仪设置于所述下辊轮背离所述上辊轮的一侧；

采集所述辊压机辊压物料过程中的辊轧力和弯辊力，以及所述第一测距仪在辊轮轴向上多个位置处与所述上辊轮之间的第一距离、所述第二测距仪在辊轮轴向上多个位置处与所述下辊轮之间的第二距离；

根据所述辊轧力、所述弯辊力、所述上辊轮和下辊轮的平均径向圆跳动、所述上辊轮和所述下辊轮的辊轮大小参数以及所述辊轮材料特性参数，计算所述上辊轮和所述下辊轮各自在所述辊压厚度方向上的平均厚度；

根据所述总距离、所述第一距离、所述第二距离、所述上辊轮和所述下辊轮各自在所述辊压厚度方向上的平均厚度，计算得到被辊压的物料的实时厚度。

一种辊压机控制方法，包括：

计算上述厚度测量方法所得的实时厚度与预设的目标厚度之间的差值；

基于所述差值调节所述辊压机的辊轧力与弯辊力。

一种厚度测量装置，包括：

数据获取模块，用于获取辊压机的上辊轮和下辊轮的平均径向圆跳动，获取所述上辊轮和所述下辊轮的辊轮大小参数和辊轮材料特性参数，以及第一测距仪与第二测距仪在辊压厚度方向上的总距离；其中，所述第一测距仪设置于所述上辊轮背离所述下辊轮的一侧，所述第二测距仪设置于所述下辊轮背离所述上辊轮的一侧；

数据采集模块，用于采集所述辊压机辊压物料过程中的辊轧力和弯辊力，以及所述第一测距仪在辊轮轴向上多个位置处与所述上辊轮之间的第一距离、所述第二测距仪在辊轮轴向上多个位置处与所述下辊轮之间的第二距离；