[发明专利]一种基于柔性载板的SiC切割工艺在审
申请号: | 202211209764.2 | 申请日: | 2022-09-30 |
公开(公告)号: | CN115497821A | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
发明(设计)人: | 严立巍;朱亦峰;刘文杰;马晴 | 申请(专利权)人: | 中晟鲲鹏光电半导体有限公司;浙江同芯祺科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;H01L21/683;B23K26/38;B23K26/402 |
代理公司: | 北京和联顺知识产权代理有限公司 11621 | 代理人: | 苏映惜 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 柔性 sic 切割 工艺 | ||
本发明涉及晶圆加工技术领域,具体的是一种基于柔性载板的SiC切割工艺,本发明包括S1、完成SiC正面金属制程前的工艺与背面的减薄、离子植入;S2、将SiC正面键合在柔性玻璃载板上;S3、对晶圆采用激光隐形切割,并进行扩膜裂片;S4、将柔性玻璃载板键合在玻璃载板上;S5、溅镀金属膜;S6、使用uv光照,使得晶粒从柔性玻璃载板上解键脱落;本发明通过用柔性载板是因为做背面的金属溅镀时需要高温,到那时切割模框不能承受高温;要能够扩膜裂片又要能承受高温,柔性载板就是最好的选择,通过在晶圆的表面切割出上窄下宽的隐形切割面,这样在溅镀的时候,金属在经过断裂面后,就会掉入底部较宽的断裂面内,就不会与两边的晶粒相连,直接在晶粒的表面镀膜。
技术领域
本发明涉及晶圆加工技术领域,具体的是一种基于柔性载板的SiC切割工艺。
背景技术
碳化硅晶片的主要应用领域有LED固体照明和高频率器件。该材料具有高出传统硅数倍的禁带、漂移速度、击穿电压、热导率、耐高温等优良特性,在高温、高压、高频、大功率、光电、抗辐射、微波性等电子应用领域和航天、军工、核能等极端环境应用有着不可替代的优势。
目前在对碳化硅晶圆进行加工时,由于碳化硅比较坚硬,但是又比较脆,切割难度比较大,现在的技术是把正面和背面的工艺全部做完以后再用激光打断金属,再对晶圆进行隐形切割,然后转移到切割模框上进行扩膜裂片断开晶粒。这样的工艺步骤有个难点,那就是做完背面的金属以后,用激光去切割金属时,切割道对准技术比较困难,难以做到精准切割。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于柔性载板的SiC切割工艺,以解决上述背景技术中提出的问题。
本发明的目的可以通过以下技术方案实现:
一种基于柔性载板的SiC切割工艺,包括以下步骤:
S1、完成SiC正面金属制程前的工艺与背面的减薄、离子植入;
S2、采用能够耐受200℃以上的粘着剂,将SiC正面键合在柔性玻璃载板上;
S3、对晶圆采用激光隐形切割,形成上窄下宽的隐形切割面,并沿着隐形切割面进行扩膜裂片断开形成晶粒;
S4、将柔性玻璃载板键合在玻璃载板上;
S5、采用溅镀的方式,在SiC晶圆的背面附金属膜;
S6、将SiC晶圆的背面放置在切割模框上,采用uv光照,使得晶粒从柔性玻璃载板上解键脱落。
进一步的,所述S1中SiC正面金属制程前的工艺包括沟槽、ILD和接触孔工艺。
进一步的,所述S3中上窄下宽的隐形切割面为靠近背面的晶圆表面形成窄隐形切割面,靠近正面的晶圆表面形成宽隐形切割面,且窄隐形切割面与宽隐形切割面处于同一竖直面内。
进一步的,所述S4具体为通过将柔性玻璃载板放置于玻璃载板上,然后通过聚酰亚胺对柔性玻璃载板进行封边。
进一步的,所述S5中金属膜包括Ti、Ni与Ag。
本发明的有益效果:
1、本发明用柔性载板是因为做背面的金属溅镀时需要高温,到那时切割模框不能承受高温;要能够扩膜裂片又要能承受高温,柔性载板就是最好的选择;
2、本发明通过在晶圆的表面切割出上窄下宽的隐形切割面,这样在溅镀的时候,金属在经过断裂面后,就会掉入底部较宽的断裂面内,就不会与两边的晶粒相连,从而实现直接在晶粒的表面镀膜。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中晟鲲鹏光电半导体有限公司;浙江同芯祺科技有限公司,未经中晟鲲鹏光电半导体有限公司;浙江同芯祺科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造