[发明专利]一种用于磁栅尺的单场扫描装置及扫描方法有效
申请号: | 202211266383.8 | 申请日: | 2022-10-17 |
公开(公告)号: | CN115597477B | 公开(公告)日: | 2023-06-16 |
发明(设计)人: | 叶国永;季冲;刘旭玲;张亚琳;金少搏;王辉;安小宇;夏瑞雪 | 申请(专利权)人: | 郑州轻工业大学 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02;G01D5/14 |
代理公司: | 北京哌智科创知识产权代理事务所(普通合伙) 11745 | 代理人: | 张元媛 |
地址: | 450000 河南省郑州*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 磁栅尺 扫描 装置 方法 | ||
1.一种用于磁栅尺的单场扫描装置,其特征在于,所述扫描装置包括读数单元(2)和数显装置(3),所述读数单元(2)和数显装置(3)通过数据线连接;所述读数单元(2)和磁栅尺(1)沿X向平行,两者沿Y向中心对齐且沿Z向间隙为0.3~2mm;所述读数单元(2)的内部为单场扫描霍尔传感微阵列(5),所述单场扫描霍尔传感微阵列(5)由M组扫描探测单元组成,每组扫描探测单元由N个微尺度霍尔元件(6)构成,N个微尺度霍尔元件(6)等间距地分布在一个磁栅尺栅距Λ内,每组扫描探测单元的N个微尺度霍尔元件的编号为A1,A2,...,AN,编号相同的微尺度霍尔元件(6)通过一根信号线连接在一起。
2.如权利要求1所述的一种用于磁栅尺的单场扫描装置,其特征在于,所述微尺度霍尔元件(6)为线性霍尔元件,尺度为0.1~0.5mm。
3.如权利要求1所述的一种用于磁栅尺的单场扫描装置,其特征在于,M为整数,取值为3、4、5或6。
4.如权利要求1所述的一种用于磁栅尺的单场扫描装置,其特征在于,N为整数,取值为3或4。
5.一种基于权利要求1-4中任意一项所述的单场扫描装置的扫描方法,其特征在于,所述扫描方法包括如下步骤:
S1:将读数单元(2)与磁栅尺(1)平行放置,之后将读数单元(2)沿X方向对磁栅尺(1)进行扫描,单场扫描霍尔传感微阵列(5)感知周期性磁场变化,编号为Ai的微尺度霍尔元件输出信号,该信号的表达式为:
公式(1)中,ε为信号幅值,Λ为磁栅尺栅距,N为每组扫描探测单元包含的微尺度霍尔元件数量,x为待测位移;
S2:所述单场扫描霍尔传感微阵列(5)最终输出N路正弦波形电信号,第i路电信号Si为所有编号为Ai的微尺度霍尔元件输出信号Ii之和:
公式(2)中,i=1,2,...N;被测位移量x所引起的相位变化2πx/Λ,反映为单场扫描霍尔传感微阵列输出信号Si的强度变化;
S3:验证信号Si的质量:
当信号Si存在非理想特征时,就会引入位移测量误差;信号Si的质量,用李沙育图形来表示,理想李沙育图形是一个中心在原点的圆形,即李沙育圆,当存在非理想信号特征时,李沙育图形会偏离名义李沙育圆,若李沙育图形未偏离名义李沙育圆,则证明不存在非理想信号特征;
S4:通过对输出信号Si进行反正切细分、线性化细分解调算法处理,获得被测位移值x。
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