[发明专利]一种用于磁栅尺的单场扫描装置及扫描方法有效
申请号: | 202211266383.8 | 申请日: | 2022-10-17 |
公开(公告)号: | CN115597477B | 公开(公告)日: | 2023-06-16 |
发明(设计)人: | 叶国永;季冲;刘旭玲;张亚琳;金少搏;王辉;安小宇;夏瑞雪 | 申请(专利权)人: | 郑州轻工业大学 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02;G01D5/14 |
代理公司: | 北京哌智科创知识产权代理事务所(普通合伙) 11745 | 代理人: | 张元媛 |
地址: | 450000 河南省郑州*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 磁栅尺 扫描 装置 方法 | ||
一种用于磁栅尺的单场扫描装置,由M组扫描探测单元组成,每组扫描探测单元由N个微尺度霍尔元件构成。N个微尺度霍尔元件(编号为Asubgt;1/subgt;,Asubgt;2/subgt;,...,Asubgt;N/subgt;)等间距地分布在一个磁栅尺栅距Λ内,编号相同的微尺度霍尔元件信号线连接在一起。扫描时把用于感知磁栅尺磁场变化的霍尔元件在空间彼此混合,最终输出的传感信号由多个具有不同空间位置、相同相位关系的微尺度霍尔元件共同产生,相比与现有磁栅尺四场扫描方式,其具有误差均化效应,当磁栅尺局部污染或个别感应元件失效时,本发明依旧可以输出高质量、高可靠性的传感信号,从而提高磁栅尺的服役精度和可靠性。
技术领域
本发明涉及精密位移测量技术领域,特别涉及一种用于磁栅尺的单场扫描霍尔传感微阵列。
背景技术
以光栅尺、磁栅尺等为代表的大量程精密栅类传感器,是决定制造装备精度的关键传感部件之一。光栅尺的测量精度可达亚微米级,广泛应用于数控机床、电子制造装备、半导体装备等领域。但光栅尺基于光电扫描原理进行测量,对栅尺的局部污染、灰尘、震动等敏感,因此不适用于恶劣工况。
磁栅尺基于磁电扫描原理,通过磁感应线圈测头或霍尔元件感知磁场变化来测量位移,相比于光栅尺,其具有相对更好的抗震、耐腐蚀、耐污染等特点,在精度要求不高、服役环境恶劣的场合广泛应用,如冶金、机械、石化等行业。
磁栅尺传感信号质量,是制约磁栅尺精度提升的关键问题之一。传统磁栅尺采用传统四场扫描的读数方式,如图1所示,通过空间上相互独立的四个感应元件(磁感应线圈测头或霍尔元件)来感知磁场变化,输出四路正余弦传感信号S1~S4。以感应元件1为基准,感应元件2、3、4与感应元件1的间距分别为(L+1/4)Λ、(L+2/4)Λ、(L+3/4)Λ,其中L为整数且L≥1。传统四场扫描方式存在以下技术缺陷:1)磁栅尺的耐污染性虽优于光栅尺,但存在栅尺局部污染时,传感信号质量、特别是四路信号一致性,会受到严重影响,降低磁栅尺服役精度。2)当个别磁感应线圈测头或霍尔元件出现故障时,传感信号会出现很大误差乃至缺失,造成磁栅尺传感系统失效。
发明内容
为了克服上述现有技术的不足,本发明提供一种用于磁栅尺的单场扫描装置及扫描方法,相比于传统四场扫描的磁场探测方式(即通过四个独立的磁感应线圈测头或霍尔元件来感知磁场变化),当存在磁栅尺局部污染或个别感应元件失效时,其依旧可以输出高质量、高可靠性的传感信号,因此可以显著提高磁栅尺的服役精度和可靠性。
为了达到上述目的,本发明采取的技术方案为:
一种用于磁栅尺的单场扫描装置,所述扫描装置包括读数单元和数显装置,所述读数单元和数显装置通过数据线连接;所述读数单元和磁栅尺沿X向平行,两者沿Y向中心对齐且沿Z向间隙为0.3~2mm。所述读数单元的内部为单场扫描霍尔微阵列,所述单场扫描霍尔微阵列由M组扫描探测单元组成,每组扫描探测单元由N个微尺度霍尔元件构成,N个微尺度霍尔元件等间距地分布在一个磁栅尺栅距Λ内,每组扫描探测单元的N个微尺度霍尔元件的编号为A1,A2,...,AN,编号相同的微尺度霍尔元件通过一根信号线连接在一起。
进一步地,所述微尺度霍尔元件为线性霍尔元件,尺度为0.1~0.5mm。
进一步地,M为整数,取值为3、4、5或6。
进一步地,N为整数,取值为3或4。
一种基于磁栅尺的单场扫描装置的扫描方法,所述扫描方法包括如下步骤:
S1:将读数单元与磁栅尺平行放置,之后将读数单元沿X方向对磁栅尺进行扫描,单场扫描霍尔传感微阵列感知周期性磁场变化,编号为Ai的微尺度霍尔元件输出信号,该信号的表达式为:
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