[发明专利]掩模板图层的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质

说明书

本发明提供一种掩模板图层的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质。检测方法包括获取至少一掩模板图层；将所述至少一掩模板图层划分为一第一区域以及一第二区域，其中所述第一区域为非检测区，所述第二区域为检测区，且所述第二区域为异形区域；将所述第二区域划分为多个呈阵列排布的区块；将所述区块中的一第一区块与至少一第二区块进行比对，得到一比对结果；根据所述比对结果判断所述掩模板图层的缺陷类型；其中，所述第一区域具有一第一背景色，所述第二区域具有一第二背景色，所述第一背景色与所述第二背景色不同。

技术领域

本发明是有关于一种显示面板制造中所使用掩模板图层的检测方法及检测装置，且特别是有关于一种能够应用于异形显示面板中掩模板图层的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质。

背景技术

随着科技的发展，显示装置被广泛应用在许多电子产品上，如手机、平板电脑、手表、汽车等。

在显示装置的显示面板制造过程中，掩模板的应用是不可避免的。掩模板的设计图层通常采用八邻域比对法进行检测，判断设计图层是否存在缺陷。对于异形显示面板，其掩模板的设计图层同样是不规则的形状，不规则设计图层可分为矩形区以及非矩形区。在对非矩形区使用八邻域比对法进行检测时，将产生大量假错信息。

现有的检测方法中，通常将设计图层的底色设置为黑色，并将其定义为无效，其余设计图层定义为有效。在采用八邻域比对法进行检测时，如果检测到缺陷，则进一步判断缺陷与底色是否相同，当缺陷与底色颜色相同，则忽略该缺陷，由此可以检测出图层增加类型的缺陷，但对于图层缺失类型的缺陷，由于其颜色与底色相同，导致无法检出。

因此，如何提供一种能够同时检测出异形掩模板设计图层中图层缺失以及图层增加两种类型的缺陷、降低生产成本、提高生产效率的检测方法，实为需要解决的问题之一。

发明内容

本发明的实施例提供一种掩模板图层的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质，可以同时检测出异形掩模板设计图层中图层缺失以及图层增加两种类型的缺陷、降低生产成本、提高生产效率。

本发明一实施方式掩模板图层的检测方法，包括获取至少一掩模板图层；将所述至少一掩模板图层划分为一第一区域以及一第二区域，其中所述第一区域为非检测区，所述第二区域为检测区，且所述第二区域为异形区域；将所述第二区域划分为多个呈阵列排布的区块；将所述区块中的一第一区块与至少一第二区块进行比对，得到一比对结果；根据所述比对结果判断所述掩模板图层的缺陷类型；其中，所述第一区域具有一第一背景色，所述第二区域具有一第二背景色，所述第一背景色与所述第二背景色不同。

上述的检测方法，其中，所述第一背景色包括黑色，第二背景色包括灰色。

上述的检测方法，其中，采用八邻域比对法对所述第一区块与所述至少一第二区块进行比对。

上述的检测方法，其中，采用所述八邻域比对法检测所述第一区块时，先确定出所述第一区块的八个参考区块，若所述八个参考区块中部分参考区块位于所述第一区域，则此部分参考区块不参与比对。

上述的检测方法，其中，所述缺陷类型包括图层增加或者图层缺失。

上述的检测方法，其中，将所述第一区块与所述至少一第二区块进行比对时，若判断所述第一区块或某一所述第二区块存在缺陷，则进一步确认所述缺陷是否与所述第二背景色的颜色相同，若相同，则判断所述缺陷类型为图层缺失。