[发明专利]三维测量设备检查量规、三维测量设备及其检查方法在审
申请号: | 202211300012.7 | 申请日: | 2022-10-24 |
公开(公告)号: | CN116067328A | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 井上友人;奈良正之 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20;G01B21/16 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 测量 设备 检查 量规 及其 方法 | ||
1.一种三维测量设备检查量规,包括:
被测量的多个对象,三维测量设备的探针的尖端与所述被测量的多个对象接触;以及
框架构件,其支撑所述多个对象,其中,
所述多个对象布置在与三棱柱的各个顶点相对应的位置中。
2.根据权利要求1所述的三维测量设备检查量规,其中,
所述框架构件支撑所述多个对象,使得第一对象、第二对象和第三对象定位在形成三棱柱的一个底面的三角形的顶点处,而第四对象、第五对象和第六对象分别与所述第一对象、所述第二对象和所述第三对象的位置相对应地定位在形成所述三棱柱的另一底面的三角形的顶点处;以及
使得在所述对象上方的区域中形成空间,以便当所述探针处于所述探针在与所述三维测量设备的放置工件的安装面垂直的方向上延伸的位置处时,所述探针单元能够从上方接近所述对象;以及
使得所述探针单元移动的空间形成在从所述第一对象到所述第四对象的区域、从所述第二对象到所述第五对象的区域以及从所述第三对象到所述第六对象的区域中,以便当所述探针处于所述探针在与垂直方向交叉的方向上延伸的位置处时,允许所述探针从所述三棱柱的内部空间侧接近所述对象。
3.根据权利要求2所述的三维测量设备检查量规,其中,
所述框架构件具有:
第一框架,其定位在与所述三棱柱的一个底面相对应的位置处;
第二框架,其定位在与所述三棱柱的另一个底面相对应的位置处;以及
联接构件,其联接所述第一框架和所述第二框架,
所述第一框架支撑所述第一对象、所述第二对象和所述第三对象,以及
所述第二框架支撑所述第四对象、所述第五对象和所述第六对象。
4.根据权利要求3所述的三维测量设备检查量规,其中,
所述联接构件具有:
第一联接构件,其联接所述第一框架的第一对象支撑部附近的部分和所述第二框架的第四对象支撑部附近的部分;
第二联接构件,其联接所述第一框架的第二对象支撑部附近的部分和所述第二框架的第五对象支撑部附近的部分;以及
第三联接构件,其联接所述第一框架的第三对象支撑部附近的部分和所述第二框架的第六对象支撑部附近的部分。
5.根据权利要求3或4所述的三维测量设备检查量规,其中,
所述第一框架和所述第二框架各自具有:
基部,其在水平方向上延伸,并且在其两端处支撑对象;以及
直立部,其从所述基部向上延伸,并且在所述直立部的顶部处支撑对象,以及
所述第一框架和所述第二框架由单个构件形成。
6.根据权利要求5所述的三维测量设备检查量规,其中,所述直立部形成为具有倾斜边对的等腰三角形形状。
7.根据权利要求6所述的三维测量设备检查量规,其中,
所述倾斜边各自具有从所述三维测量设备检查量规面向上的倾斜面,以及
所述倾斜面是平坦面。
8.根据权利要求1或2所述的三维测量设备检查量规,其中,各个对象位于与正三棱柱的顶点相对应的位置处,并且所述多个对象彼此以相等的间隔布置。
9.根据权利要求1或2所述的三维测量设备检查量规,其中,
所述框架构件具有三个支撑部,用于当所述三维测量设备检查量规放置在所述安装面上时支撑所述三维测量设备检查量规。
10.根据权利要求2所述的三维测量设备检查量规,其中,所述框架构件由单个构件形成,包括:第一框架部分,其定位在与所述三棱柱的一个底面相对应的位置处;第二框架部分,其定位在与所述三棱柱的另一个底面相对应的位置处;以及联接构件部分,其联接所述第一框架部分和所述第二框架部分。
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