[发明专利]三维测量设备检查量规、三维测量设备及其检查方法在审

专利信息
申请号: 202211300012.7 申请日: 2022-10-24
公开(公告)号: CN116067328A 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 井上友人;奈良正之 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01B21/16
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 三维 测量 设备 检查 量规 及其 方法
【说明书】:

本公开涉及三维测量设备检查量规、三维测量设备及其检查方法。一种三维测量设备检查量规(50),包括:多个被测量对象(T1‑T6),三维测量设备(1)的探针(25)的尖端与所述多个被测量对象(T1‑T6)接触;以及支撑所述多个对象的框架构件(51)。多个对象被布置在与三棱柱的各个顶点相对应的位置中。

技术领域

本发明涉及三维测量设备检查量规、三维测量设备检查方法和三维测量设备。

背景技术

存在检查三维测量设备的运动精度时使用的常规已知的检查量规。检查量规具有设置在与三棱柱的顶点相对应的位置处的球体,并且球体通过设置在与三棱柱的边相对应的位置处的杆状构件连接(例如,参见德国专利申请公开19720883的说明书)。

发明内容

发明要解决的问题

当检查三维测量设备时,通过使三维测量设备的探针与检查量规的布置在检查量规的三棱柱顶点处的球体接触,由此测量球体之间的距离。例如,存在使用具有如下位置的探针来进行物体的测量的三维测量设备,在该位置探针指向垂直向下或指向水平方向。在常规配置中,检查的指标是以不同探针位置进行测量的三维测量设备的运动误差,存在不能利用单个三维测量设备检查量规以高精度进行检查的问题。

本发明是考虑到这些点而做出的,并且其目的是提高三维测量设备的使用检查量规的检查精度。

用于解决问题的方案

根据本发明的一种三维测量设备检查量规,包括:被测量的多个对象,三维测量设备的探针的尖端与所述被测量的多个对象接触;以及框架构件,其支撑所述多个对象,其中,所述多个对象布置在与三棱柱的各个顶点相对应的位置中。

所述框架构件可以支撑所述多个对象,使得第一对象、第二对象和第三对象定位在形成三棱柱的一个底面的三角形的顶点处,而第四对象、第五对象和第六对象分别与所述第一对象、所述第二对象和所述第三对象的位置相对应地定位在形成所述三棱柱的另一底面的三角形的顶点处;以及使得在所述对象上方的区域中形成空间,以便当所述探针处于所述探针在与所述三维测量设备的放置工件的安装面垂直的方向上延伸的位置处时,所述探针单元能够从上方接近所述对象;以及使得所述探针单元移动的空间形成在从所述第一对象到所述第四对象的区域、从所述第二对象到所述第五对象的区域以及从所述第三对象到所述第六对象的区域中,以便当所述探针处于所述探针在与垂直方向交叉的方向上延伸的位置处时,允许所述探针从所述三棱柱的内部空间侧接近所述对象。

所述框架构件可以具有:第一框架,其定位在与所述三棱柱的一个底面相对应的位置处;第二框架,其定位在与所述三棱柱的另一个底面相对应的位置处;以及联接构件,其联接所述第一框架和所述第二框架,所述第一框架支撑所述第一对象、所述第二对象和所述第三对象,以及所述第二框架支撑所述第四对象、所述第五对象和所述第六对象。

所述联接构件可以具有:第一联接构件,其联接所述第一框架的第一对象支撑部附近的部分和所述第二框架的第四对象支撑部附近的部分;第二联接构件,其联接所述第一框架的第二对象支撑部附近的部分和所述第二框架的第五对象支撑部附近的部分;以及第三联接构件,其联接所述第一框架的第三对象支撑部附近的部分和所述第二框架的第六对象支撑部附近的部分。

所述第一框架和所述第二框架各自可以具有:基部,其在水平方向上延伸,并且在其两端处支撑对象;以及直立部,其从所述基部向上延伸,并且在所述直立部的顶部处支撑对象,以及所述第一框架和所述第二框架由单个构件形成。

所述直立部可以形成为具有倾斜边对的等腰三角形形状。

各个对象可以位于与正三棱柱的顶点相对应的位置处,并且所述多个对象彼此以相等的间隔布置。

所述框架构件具有三个支撑部,用于当所述三维测量设备检查量规放置在所述安装面上时支撑所述三维测量设备检查量规。

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