[发明专利]基于磁性方式的角度检测系统及其检测方法在审
申请号: | 202211317155.9 | 申请日: | 2022-10-26 |
公开(公告)号: | CN116067271A | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 金济国;权敬洙;高菜东;李锡政 | 申请(专利权)人: | SNA株式会社 |
主分类号: | G01B7/30 | 分类号: | G01B7/30;G01D5/14;H02K11/215 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李银花;徐丹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 磁性 方式 角度 检测 系统 及其 方法 | ||
1.一种角度检测系统,其利用具备第1磁道及第2磁道的磁铁,该角度检测系统包括绝对角度计算部,
该绝对角度计算部利用如下的数字信号而计算上述磁铁的位置的绝对角度:检测上述第1磁道的磁场信号而转换成数字信号的第1-1数字信号、检测上述第1磁道的磁场信号而转换成数字信号的第1-2数字信号、检测上述第2磁道的磁场信号而转换成数字信号的第2-1数字信号及检测上述第2磁道的磁场信号而转换成数字信号的第2-2数字信号,
上述第1-1数字信号及上述第1-2数字信号为彼此具备90度的相位差异的正弦波信号,
上述第2-1数字信号及上述第2-2数字信号为彼此具备90度的相位差异的正弦波信号。
2.根据权利要求1所述的角度检测系统,其中,
上述磁铁的位置的绝对角度包括以下区间值中的至少一个数据而构成:
主区间值,其是将上述磁铁的360度的1次旋转划分为第1主区间至第4主区间的值,上述第1主区间至第4主区间是4个90度区间;
子区间值,其作为利用上述第1磁道的磁场信号及上述第2磁道的磁场信号之间的相位差异的值,将上述第1主区间至上述第4主区间分别分成多个区间;
第1信号区间值,其是利用上述第1-1数字信号的符号及上述第1-2数字信号的符号而将上述第1磁道的磁场信号划分为4个第1信号区间的值;及
下位区间值,其是针对各个上述第1信号区间值而通过上述第1-1数字信号及上述第1-2数字信号来计算的值。
3.根据权利要求1所述的角度检测系统,其中,
上述绝对角度计算部包括:
主区间值计算器,其计算主区间值,该主区间值是将上述磁铁的360度的1次旋转划分为第1主区间至第4主区间的值,上述第1主区间至第4主区间是4个90度区间;及
角度输出器,其输出包括上述主区间值的上述磁铁的位置的绝对角度数据。
4.根据权利要求3所述的角度检测系统,其中,
上述绝对角度计算部还包括:
第1差异值计算器,其利用上述第1-1数字信号、上述第1-2数字信号、上述第2-1数字信号及上述第2-2数字信号而计算第1-1差异值至第1-4差异值,上述第1-1差异值至第1-4差异值包括上述第1磁道的磁场信号及上述第2磁道的磁场信号之间的相位差异的值;
数据转换器,其将上述第1-1差异值至上述第1-4差异值分别转换为第1-1有符号差异值至第1-4有符号差异值,上述第1-1有符号差异值至第1-4有符号差异值是具有符号的有符号值;及
偏移差异值计算器,其利用上述第1-1有符号差异值至上述第1-4有符号差异值中的多个差异值而计算将上述第1-1差异值至上述第1-4差异值分别相移45度的第1-1偏移差异值至第1-4偏移差异值,
将上述第1-1差异值至上述第1-4差异值分别计算成没有符号的无符号值。
5.根据权利要求4所述的角度检测系统,其中,
上述绝对角度计算部还包括:
子区间值计算器,其计算子区间值,该子区间值是针对各个上述主区间值而使上述第1-1偏移差异值至上述第1-4偏移差异值中的一个差异值对应于第1-1子区间至第1-M子区间的值,
上述M为2以上的自然数。
6.根据权利要求3所述的角度检测系统,其中,
上述主区间值是利用包括上述第1磁道的磁场信号及上述第2磁道的磁场信号之间的相位差异的值而计算的。
7.根据权利要求3所述的角度检测系统,其中,
上述绝对角度计算部还包括:
第1信号区间值计算器,其计算第1信号区间值,该第1信号区间值是利用上述第1-1数字信号的符号及上述第1-2数字信号的符号而将上述第1磁道的磁场信号划分为4个第1信号区间的值;及
下位区间值计算器,其针对各个上述第1信号区间值而通过上述第1-1数字信号及上述第1-2数字信号来计算下位区间值,该下位区间值是划分为K个下位的角度值的值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于SNA株式会社,未经SNA株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211317155.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件
- 下一篇:限制由二氧化氮污染引起的化学降解的方法