[发明专利]一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法

权利要求书

1.一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法，其特征在于：包括有以下步骤：

S1、碳化硅微粉取样，在碳化硅微粉中均匀设置多个取样点进行取样，并将取出的样品进行混合重新分配，形成微粉基础样品，并对其重量进行记录；

S2、粒度筛分，利用不同的粒度筛分别对多个微粉基础样品进行粒度筛分，形成粒度一样品、粒度二样品和粒度三样品，并计算各粒度的均匀占比值；

S3、取样称重，分别对上述步骤中的多个粒度一样品、多个粒度二样品和多个粒度三样品进行堆积取样，形成粒样一、粒样二、粒样三，并分别进行称重；

S4、干燥处理，将粒样一、粒样二和粒样三放置进入加热室内部进行加热处理，直至其充分干燥，形成干样一、干样二和干样三；

S5、粒度水分计算，计算干样一、干样二和干样三在粒样一、粒样二和粒样三的粒度水分分值，并根据各粒度的均匀占比值计算粒度水分总值。

2.根据权利要求1所述的一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法，其特征在于：所述碳化硅微粉取样包括有以下步骤：

S101、在碳化硅微粉堆中均匀设置多个取样点，并在取样点对碳化硅微粉进行取样，形成碳化硅微粉样品，并将其重量记录为样品量；

S102、将碳化硅微粉样品倾倒进入同一容器内部进行混合搅拌，直至形成样品混合料；

S103、在搅拌均匀的样品混合料上设置多个取样点，进行计量称取，称取出多个重量一致的微粉基础样品，并将其重量记录为样品量。

3.根据权利要求2所述的一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法，其特征在于：多个所述取样点呈网格状和梅花状任意一种形式设置，且多个所述取样点的取样高度不同，所述取样点的数量为1吨/10个。

4.根据权利要求1所述的一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法，其特征在于：所述粒度筛分包括有以下步骤：

S201、使用孔径为粒度二最小直径的筛网对微粉基础样品进行筛选，筛出粒度三样品，并对其进行称重，记录为粒重三；

S202、使用孔径为粒度二最大直径的筛网对微粉基础样品进行筛选，筛出粒度二样品，并对其进行称重，记录为粒重二；

S203、对剩余的粒度一样品进行称重，记录为粒重一；

S204、分别对粒度一样品、粒度二样品和粒度三样品在微粉基础样品中的占比比例值进行计算并记录；

粒度一样品的占比比例值(％)＝粒重一/样品量×100；

粒度二样品的占比比例值(％)＝粒重二/样品量×100；

粒度三样品的占比比例值(％)＝粒重三/样品量×100；

S205、根据多个粒度一样品、多个粒度二样品和多个粒度三样品的占比比例值计算出均匀占比值一、均匀占比值二和均匀占比值三。

5.根据权利要求1所述的一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法，其特征在于：所述取样称重包括有以下步骤：

S301、混料，分别对多个粒度一样品、多个粒度二样品和多个粒度三样品进行堆积，形成粒堆一、粒堆二和粒堆三；

S302、取样，分别在粒堆一、粒堆二和粒堆三中取出样品，形成粒样一、粒样二、粒样三；

S303、粒样称重，分别对粒样一、粒样二、粒样三进行称重，并记录为粒样重一、粒样重二、粒样重三。

6.根据权利要求1所述的一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法，其特征在于：所述加热室的加热方法包括有以下步骤：

S401、初次升温，将加热室内部的温度提升为20℃～25℃，升温速度为2℃～3℃/min；

S402、快速升温，将加热室内部的温度提升为100℃～110℃，升温速度为10℃～15℃/min；

S403、精准升温，将加热室内部的温度提升为120℃～150℃，升温速度为1℃～2℃/min；

S404、持续加热，持续对加热室内部进行加热，加热温度为120℃～150℃，加热时长为40min～45min；

S405、熄炉，将加热室内部的温度降低至室温。