[发明专利]一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法

说明书

本发明公开了一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法，属于碳化硅领域，一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法，包括有以下步骤：S1、碳化硅微粉取样，在碳化硅微粉中均匀设置多个取样点进行取样，并将取出的样品进行混合重新分配，形成微粉基础样品，并对其重量进行记录；S2、粒度筛分，利用不同的粒度筛分别对多个微粉基础样品进行粒度筛分，形成粒度一样品、粒度二样品和粒度三样品，并计算各粒度的均匀占比值；S3、取样称重，分别对上述步骤中的多个粒度一样品、多个粒度二样品和多个粒度三样品进行堆积取样；S4、干燥处理；S5、粒度水分计算，它可以实现，能够准确的对碳化硅微粉粒度水分含量进行检测。

技术领域

本发明涉及碳化硅领域，更具体地说，涉及一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法。

背景技术

碳化硅微粉主要应用于碳化硅密封件、轴承的原料，被广泛应用于航空航天、石油化工、机械、密封、电子行业等；

在碳化硅微粉的生产过程中通常会对碳化硅微粉粒度水分含量进行检测；

经检索，现有技术中的检测技术通常为对碳化硅微粉进行取样，然后对样品进行检测即可，其过程较为简单，检测结果准确性较差，为此我们提出一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法。

发明内容

1.要解决的技术问题

针对现有技术中存在的问题，本发明的目的在于提供一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法，它可以实现，能够准确的对碳化硅微粉粒度水分含量进行检测。

2.技术方案

为解决上述问题，本发明采用如下的技术方案。

一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法，包括有以下步骤：

S1、碳化硅微粉取样，在碳化硅微粉中均匀设置多个取样点进行取样，并将取出的样品进行混合重新分配，形成微粉基础样品，并对其重量进行记录；

S2、粒度筛分，利用不同的粒度筛分别对多个微粉基础样品进行粒度筛分，形成粒度一样品、粒度二样品和粒度三样品，并计算各粒度的均匀占比值；

S3、取样称重，分别对上述步骤中的多个粒度一样品、多个粒度二样品和多个粒度三样品进行堆积取样，形成粒样一、粒样二、粒样三，并分别进行称重；

S4、干燥处理，将粒样一、粒样二和粒样三放置进入加热室内部进行加热处理，直至其充分干燥，形成干样一、干样二和干样三；

S5、粒度水分计算，计算干样一、干样二和干样三在粒样一、粒样二和粒样三的粒度水分分值，并根据各粒度的均匀占比值计算粒度水分总值。

进一步的，所述碳化硅微粉取样包括有以下步骤：

S101、在碳化硅微粉堆中均匀设置多个取样点，并在取样点对碳化硅微粉进行取样，形成碳化硅微粉样品，并将其重量记录为样品量；

S102、将碳化硅微粉样品倾倒进入同一容器内部进行混合搅拌，直至形成样品混合料；

S103、在搅拌均匀的样品混合料上设置多个取样点，进行计量称取，称取出多个重量一致的微粉基础样品，并将其重量记录为样品量。

进一步的，多个所述取样点呈网格状和梅花状任意一种形式设置，且多个所述取样点的取样高度不同，所述取样点的数量至少为1吨/10个。

进一步的，所述粒度筛分包括有以下步骤：

S201、使用孔径为粒度二最小直径的筛网对微粉基础样品进行筛选，筛出粒度三样品，并对其进行称重，记录为粒重三；

S202、使用孔径为粒度二最大直径的筛网对微粉基础样品进行筛选，筛出粒度二样品，并对其进行称重，记录为粒重二；