[发明专利]一种磁子自旋力矩器件、存储结构及电子设备在审
申请号: | 202211379316.7 | 申请日: | 2022-11-04 |
公开(公告)号: | CN115802871A | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 南天翔;柴亚红 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | H10N52/85 | 分类号: | H10N52/85;H10B61/00 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 栗若木;龙洪 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自旋 力矩 器件 存储 结构 电子设备 | ||
一种磁子自旋力矩器件、存储结构及电子设备,所述磁子自旋力矩器件包括:衬底,设置在所述衬底上的自旋源层,设置在所述自旋源层远离所述衬底一侧的磁子传输层,设置在所述磁子传输层远离所述衬底一侧的磁性结构层,其中,所述磁子传输层包括多铁反铁磁材料。本实施例提供的方案,使用多铁反铁磁材料作为磁子传输层,可以实现通过电场控制磁子自旋力矩,相比使用非多铁反铁磁材料作为磁子传输层的方案,电场可调,传输距离更远,损耗更小,能耗低。
技术领域
本公开实施例涉及但不限于磁性存储技术,尤指一种磁子自旋力矩器件、存储结构及电子设备。
背景技术
磁性随机存取存储器(Magnetoresistive Random Access Memory,MRAM)因其非易失性、高持久性、低功耗等优点正成为存储器的主流。在90年代早期,自旋转移力矩(SpinTransfer Torque,STT)被发现。STT-MRAM技术近年来已成为一种成熟的嵌入式技术,各大厂商均宣布大规模生产嵌入式STT-MRAM。然而,STT-MRAM存在延迟和可靠性问题,使其不适合替换L1/L2缓存静态随机存取存储器(Static Random-Access Memory,SRAM)。自旋轨道矩-磁性随机存取存储器(Spin-Orbit Torque–MARAM,SOT-MRAM),有着亚纳秒的切换速度和更好的续航能力,而成为STT-MRAM的潜在候选。但是SOT-MRAM这种3端配置至少需要两个晶体管才能工作,大大限制了集成密度。SOT-MRAM的另一个挑战是其高开关电流,这对其可靠性和比特单元面积产生不利影响。随之,研究者提出了电压控制多比特和SOT共享写入通道。然而由于低面内磁隧道结(Magnetic Tunnel Junction,MTJ)保留和低速的门调制,限制了这种方案的可伸缩性和效率。
发明内容
以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
本公开实施例提供了一种磁子自旋力矩器件、存储结构及电子设备。
本公开实施例提供了一种磁子自旋力矩器件,包括:
衬底,设置在所述衬底上的自旋源层,设置在所述自旋源层远离所述衬底一侧的磁子传输层,设置在所述磁子传输层远离所述衬底一侧的磁性结构层,其中,所述磁子传输层包括多铁反铁磁材料。
在一示例性实施例中,所述多铁反铁磁材料包括以下至少之一:铁酸铋、铁酸铋镧、锰酸铽、锰酸钙、锰酸镥、锰酸锶钡。
在一示例性实施例中,沿垂直于所述衬底的方向,所述磁子传输层的厚度为2至1000纳米。
在一示例性实施例中,所述自旋源层的材料包括以下至少之一:铂、钽、钨、锡、铂锰合金、二碲化钨、铋锑合金、铱锰合金、二氧化铱、钌酸锶、铱酸锶。
在一示例性实施例中,所述磁性结构层包括一层或多层垂直磁各向异性薄膜。
在一示例性实施例中,所述磁性结构层的材料包括以下至少之一:钴、钴铁硼、碲化铁、镧锶锰氧化物、铂钴单层和铂钴多层。
在一示例性实施例中,所述磁子自旋力矩器件还包括:设置在所述磁性结构层远离所述衬底一侧的电极,在平行于所述衬底的平面上,所述电极的正投影与所述磁子传输层的正投影存在交叠。
本公开实施例一种存储结构,包括:衬底,设置在所述衬底上的自旋源层,设置在所述自旋源层远离所述衬底一侧的磁子传输层,设置在所述磁子传输层远离所述衬底一侧的至少一个磁记录单元,设置在所述磁记录单元远离所述衬底一侧的电极,在平行于所述衬底的平面上,所述电极的正投影与所述磁子传输层的正投影存在交叠,其中,所述磁子传输层包括多铁反铁磁材料。
在一示例性实施例中,所述电极与所述磁记录单元一一对应。
在一示例性实施例中,所述多铁反铁磁材料包括以下至少之一:铁酸铋、铁酸铋镧、锰酸铽、锰酸钙、锰酸镥、锰酸锶钡。
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