[发明专利]一种像质计检测方法、装置、计算机设备及存储介质在审
申请号: | 202211379500.1 | 申请日: | 2022-11-04 |
公开(公告)号: | CN115690447A | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 郭斌;李晓波;姜东民 | 申请(专利权)人: | 北京远舢智能科技有限公司 |
主分类号: | G06V10/44 | 分类号: | G06V10/44;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 刘攀 |
地址: | 101400 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 像质计 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
本申请提供了一种像质计检测方法、装置、计算机设备及存储介质,所述方法包括:采用目标检测模型识别底片的像质计编号、所述像质计编号的位置信息和底片焊缝的位置信息;根据所述像质计编号的位置信息,确定目标检测区的第一边缘位置;根据所述底片焊缝的位置信息,确定所述目标检测区的第二边缘位置;所述目标检测区是由所述第一边缘位置和所述第二边缘位置组成的矩形区域;根据所述目标检测区中每行像素点的像素平均值,确定可见丝的数量;根据所述像质计编号和所述可见丝的数量,确定所述可见丝中最细可见丝的编号。本申请能够提高像质计上最细可见丝的编号的检测效率,同时减少人工劳动时间成本。
技术领域
本申请涉及像质计检测技术领域,具体而言,涉及一种像质计检测方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术
像质计是测定射线照片的射线照相灵敏度的器件,根据在底片上显示的像质计的影像,可以判断底片影像的质量,并可评定透照技术、胶片暗室处理情况、缺陷检验能力等。丝型像质计是国内外使用最多的像质计,它结构简单、易于制做,已被世界各国广泛采用,国际标准化组织也将丝型像质计纳入其制订的射线照相标准中。丝型像质计的型式、规格已基本统一。
对底片中的像质计编号及其最细可见丝的识别,能够得到计算底片像质指数的数据。使用丝型像质计时,底片上能够识别的最细可见丝的编号即为像质计的灵敏度值,如底片的黑度均匀部位,一般是临近焊缝的母材金属区,能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时,则认为该丝是可识别的。但是目前对像质计编号以及最细可见丝的识别,都是相关专家通过X射线片进行人眼观察,检测效率低且人工成本较大。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例提供了一种像质计检测方法、装置、计算机设备及存储介质,能够提高像质计上最细可见丝的编号的检测效率,同时减少人工劳动时间成本。
第一方面,本申请实施例提供了一种像质计检测方法,包括以下步骤:
采用目标检测模型识别底片的像质计编号、所述像质计编号的位置信息和底片焊缝的位置信息;
根据所述像质计编号的位置信息,确定目标检测区的第一边缘位置;
根据所述底片焊缝的位置信息,确定所述目标检测区的第二边缘位置;所述目标检测区是由所述第一边缘位置和所述第二边缘位置组成的矩形区域;
根据所述目标检测区中每行像素点的像素平均值,确定可见丝的数量;
根据所述像质计编号和所述可见丝的数量,确定所述可见丝中最细可见丝的编号。
在一种可能的实施方式中,所述像质计编号的位置信息包括所述像质计编号的顶部位置和所述像质计编号的底部位置;
根据所述像质计编号的位置信息,确定目标检测区的第一边缘位置,包括:
根据所述像质计编号的位置信息,确定目标检测区的顶边位置和底边位置。
在一种可能的实施方式中,所述底片焊缝的位置信息包括所述底片焊缝的两侧边缘位置;
根据所述底片焊缝的位置信息,确定所述目标检测区的第二边缘位置,包括:
根据所述底片焊缝的位置信息,确定所述目标检测区的两个侧边位置。
在一种可能的实施方式中,所述根据所述目标检测区中每行像素点的像素平均值,确定可见丝的数量,包括:
根据获取到的所述像素平均值的个数和多个所述像素平均值,得到所述像素平均值的坐标曲线;
根据所述坐标曲线的波峰数量,确定所述可见丝的数量。
在一种可能的实施方式中,所述根据所述像质计编号和所述可见丝的数量,确定所述可见丝中最细可见丝的编号,包括:
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