[发明专利]像素检测电路、方法及LED显示背板

权利要求书

1.一种像素检测电路，其特征在于，所述像素检测电路包括检测模块和发光二极管，所述检测模块和发光二极管均为多个，且每一发光二极管对应一个检测模块，所述检测模块包括检测晶体管，所述检测晶体管的漏极与对应的发光二极管的阳极连接、栅极与第一检测信号连接、源极与第二检测信号或所述像素检测电路所在的背板的像素电路共用阳极信号连接，发光二极管的阴极与所述背板的像素电路共用阴极信号连接，所述像素检测电路还包括用于输入检测信号的检测点。

2.根据权利要求1所述的像素检测电路，其特征在于，所述检测点设置在所述像素检测电路所在的背板的表面的空白区域。

3.根据权利要求2所述的像素检测电路，其特征在于，所述检测点集中设置在所述像素检测电路所在的背板的表面的上方、下方、左方或者右方的空白区域。

4.根据权利要求1所述的像素检测电路，其特征在于，当所述检测晶体管的源极与所述第二检测信号连接时，所述检测点包括与所述第一检测信号对应导电连接的第一检测点、与所述第二检测信号对应导电连接的第二检测点和与所述像素电路共用阴极信号对应导电连接第三检测点；或者，

当所述检测晶体管的源极与所述像素电路共用阳极信号连接时，所述检测点除包括所述第一检测点和第三检测点之外还包括与所述像素电路共用阳极信号对应导电连接第四检测点。

5.根据权利要求4所述的像素检测电路，其特征在于，所述第一检测点的数量为一个；

当所述检测晶体管的源极与所述第二检测信号连接时，所述第二检测点和第三检测点的数量为多个，多个所述第二检测点和第三检测点在所述像素检测电路所在的背板上均匀分布；或者，

当所述检测晶体管的源极与所述像素电路共用阳极信号连接时，所述第三检测点和第四检测点的数量为多个，多个所述第三检测点和第四检测点在所述像素检测电路所在的背板上均匀分布。

6.根据权利要求5所述的像素检测电路，其特征在于，所述多个所述第二检测点和第三检测点在所述像素检测电路所在的背板上均匀分布包括：

每若干列相邻的像素设置一个所述第二检测点和一个所述第三检测点。

7.根据权利要求5所述的像素检测电路，其特征在于，所述多个所述第三检测点和第四检测点在所述像素检测电路所在的背板上均匀分布包括：

每若干列相邻的像素设置一个所述第三检测点和一个所述第四检测点。

8.一种LED显示背板，其特征在于，所述LED显示背板包括权利要求1-7任一项所述的像素检测电路。

9.一种像素检测方法，其特征在于，应用于权利要求1-7任一项所述的像素检测电路，所述像素检测方法包括：

当检测晶体管的源极与第二检测信号连接时，分别通过对应的检测点接收第一检测信号、第二检测信号和像素电路共用阴极信号；当所述第一检测信号与所述第二检测信号的电压差满足检测晶体管的导通电压，且所述第二检测信号与所述像素电路共用阴极信号的电压差满足发光二极管的开启电压时，转印正常的发光二极管点亮，未点亮的发光二极管即为坏点；

或者，

当检测晶体管的源极与像素电路共用阳极信号连接时，分别通过对应的检测点接收第一检测信号、像素电路共用阳极信号和像素电路共用阴极信号；当所述第一检测信号与所述像素电路共用阳极信号的电压差满足检测晶体管的导通电压，且所述像素电路共用阳极信号与所述像素电路共用阴极信号的电压差满足发光二极管的开启电压时，转印正常的发光二极管点亮，未点亮的发光二极管即为坏点。

10.根据权利要求9所述的像素检测方法，其特征在于，所述第一检测信号的数量为一个；

当所述检测晶体管的源极与所述第二检测信号连接时，所述第二检测信号和像素电路共用阴极信号的数量均为多个，当所述第一检测信号与多个所述第二检测信号的电压差同时满足检测晶体管的导通电压，且多个所述第二检测信号与对应的多个所述像素电路共用阴极信号的电压差同时满足发光二极管的开启电压时，全屏转印正常的发光二极管同时点亮，未点亮的发光二极管即为坏点；

当检测晶体管的源极与像素电路共用阳极信号连接时，所述像素电路共用阳极信号和像素电路共用阴极信号的数量均为多个，当所述第一检测信号与多个所述像素电路共用阳极信号的电压差同时满足检测晶体管的导通电压，且多个所述像素电路共用阳极信号与对应的多个所述像素电路共用阴极信号的电压差同时满足发光二极管的开启电压时，全屏转印正常的发光二极管同时点亮，未点亮的发光二极管即为坏点。