[发明专利]像素检测电路、方法及LED显示背板

说明书

本发明公开了一种像素检测电路、像素检测方法及LED显示背板，属于LED显示屏技术领域。其中，该像素检测电路包括检测模块和发光二极管，每一发光二极管对应一个检测模块，检测模块包括检测晶体管，检测晶体管的漏极与对应的发光二极管的阳极连接、栅极与第一检测信号连接、源极与第二检测信号或背板的像素电路共用阳极信号连接，发光二极管的阴极与背板的像素电路共用阴极信号连接。通过第一检测信号、第二检测信号及像素电路共用阴极信号的相互配合，或者第一检测信号、像素电路共用阳极信号及像素电路共用阴极信号的相互配合，使得所述检测晶体管导通，一次性点亮全屏，从而检测出全屏所有的坏点，有效地提高转印后的显示屏的检测效率。

技术领域

本发明涉及LED显示屏技术领域，尤其涉及一种像素检测电路、像素检测方法及LED显示背板。

背景技术

LED显示屏是用LED模块或像素单元组成的显示屏幕，由于占据色彩、拼缝、均匀性、功耗等性能优势，被广泛应用于会议场所、军事指挥、安防显示、商业显示等领域。随着分辨率的增大，4K显示屏、8K显示屏等概念的提出，显示屏上的像素点越来越多，对应的需要转印的LED也越来越多；随着点间距的进一步缩小，各种小尺寸的诸如MiniLED/MicroLED技术也逐渐普及，其转印难度更高，良率较低。因此，如何高效地完成转印后的显示屏的检测成为一个亟需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种像素检测电路、像素检测方法及LED显示背板，以解决现有完成转印后的显示屏的检测效率较低的技术问题。

本发明解决上述技术问题所采用的技术方案如下：

根据本发明实施例的一个方面，提供一种像素检测电路，该像素检测电路包括检测模块和发光二极管，所述检测模块和发光二极管均为多个，且每一发光二极管对应一个检测模块，所述检测模块包括检测晶体管，所述检测晶体管的漏极与对应的发光二极管的阳极连接、栅极与第一检测信号连接、源极与第二检测信号或所述像素检测电路所在的背板的像素电路共用阳极信号连接，发光二极管的阴极与所述背板的像素电路共用阴极信号连接，所述像素检测电路还包括用于输入检测信号的检测点。

可选地，所述检测点设置在所述像素检测电路所在的背板的表面的空白区域。

可选地，所述检测点集中设置在所述像素检测电路所在的背板的表面的上方、下方、左方或者右方的空白区域。

可选地，当所述检测晶体管的源极与所述第二检测信号连接时，所述检测点包括与所述第一检测信号对应导电连接的第一检测点、与所述第二检测信号对应导电连接的第二检测点和与所述像素电路共用阴极信号对应导电连接第三检测点；或者，

当所述检测晶体管的源极与所述像素电路共用阳极信号连接时，所述检测点除包括所述第一检测点和第三检测点之外还包括与所述像素电路共用阳极信号对应导电连接第四检测点。

可选地，所述第一检测点的数量为一个；

当所述检测晶体管的源极与所述第二检测信号连接时，所述第二检测点和第三检测点的数量为多个，多个所述第二检测点和第三检测点在所述像素检测电路所在的背板上均匀分布；或者，

当所述检测晶体管的源极与所述像素电路共用阳极信号连接时，所述第三检测点和第四检测点的数量为多个，多个所述第三检测点和第四检测点在所述像素检测电路所在的背板上均匀分布。

可选地，所述多个所述第二检测点和第三检测点在所述像素检测电路所在的背板上均匀分布包括：

每若干列相邻的像素设置一个所述第二检测点和一个所述第三检测点。

可选地，所述多个所述第三检测点和第四检测点在所述像素检测电路所在的背板上均匀分布包括：

每若干列相邻的像素设置一个所述第三检测点和一个所述第四检测点。