[发明专利]安全集成电路及其操作方法、电子装置在审
申请号: | 202211404320.4 | 申请日: | 2022-11-10 |
公开(公告)号: | CN116126570A | 公开(公告)日: | 2023-05-16 |
发明(设计)人: | 李智炯 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 赵南;肖学蕊 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 安全 集成电路 及其 操作方法 电子 装置 | ||
1.一种安全集成电路,包括:
存储器,其包括第一寄存器和第二寄存器;
令牌生成电路,其被配置为:
基于在执行操作之前从所述第一寄存器中提取的第一关注的比特生成第一数据,
通过转换所述第一数据生成第一令牌,
基于在执行所述操作之后从所述第二寄存器中提取的第二关注的比特生成第二数据,以及
通过转换所述第二数据生成第二令牌;以及
错误检测电路,其被配置为通过将所述第一令牌与所述第二令牌进行比较,来检测关于所述第一关注的比特或所述第二关注的比特的错误。
2.根据权利要求1所述的安全集成电路,其中,所述错误检测电路还被配置为基于所述第一令牌和所述第二令牌之间的差值为零的所述比较的结果,确定关于所述第一关注的比特或所述第二关注的比特未出现错误。
3.根据权利要求1所述的安全集成电路,其中,所述错误检测电路还被配置为基于所述第一令牌和所述第二令牌之间的差值不为零的所述比较的结果,确定关于所述第一关注的比特或所述第二关注的比特已出现错误。
4.根据权利要求1所述的安全集成电路,其中,所述错误检测电路还被配置为基于所述第一令牌与所述第二令牌之间的所述比较的结果识别至少一个出现错误的比特的数量或者所述至少一个出现错误的比特的位置。
5.根据权利要求1所述的安全集成电路,其中,所述错误检测电路还被配置为:
基于所述第一令牌和所述第二令牌之间的差值不为零的所述比较的结果,将错误计数值增加1,以及
基于所述错误计数值大于参考值,将包括操作停止命令或复位命令的信号发送至所述处理器。
6.根据权利要求1所述的安全集成电路,其中,所述令牌生成电路还被配置为通过分别对所述第一数据和所述第二数据执行以下各项之一,来生成所述第一令牌和所述第二令牌:
哈希运算、模运算、乘法运算、加法运算、除法运算、异或运算、以及根据特定记数法的数据转换操作。
7.根据权利要求1所述的安全集成电路,其中,所述第一关注的比特表示在执行所述操作之前存储在寄存器中的第一位置的比特值,并且所述第二关注的比特表示在执行所述操作之后存储在所述寄存器中的所述第一关注的比特的所述第一位置的比特值。
8.一种安全集成电路的操作方法,所述方法包括:
基于在执行操作之前提取的第一关注的比特生成第一数据;
通过转换所述第一数据生成第一令牌;
基于在执行所述操作之后提取的第二关注的比特生成第二数据;
通过转换所述第二数据生成第二令牌;以及
通过将所述第一令牌与所述第二令牌进行比较,来检测关于所述第一关注的比特或所述第二关注的比特的错误。
9.根据权利要求8所述的操作方法,其中,检测所述错误包括:基于所述第一令牌和所述第二令牌之间的差值为零的所述比较的结果,确定关于所述第一关注的比特或所述第二关注的比特未出现错误。
10.根据权利要求8所述的操作方法,其中,检测所述错误包括:基于所述第一令牌和所述第二令牌之间的差值不为零的所述比较的结果,确定关于所述第一关注的比特或所述第二关注的比特已出现错误。
11.根据权利要求8所述的操作方法,还包括:基于所述第一令牌和所述第二令牌之间的所述比较的结果识别至少一个出现错误的比特的数量或者所述至少一个出现错误的比特的位置。
12.根据权利要求8所述的操作方法,还包括:
基于所述第一令牌和所述第二令牌之间的差值不为零的所述比较的结果,将错误计数值增加1;以及
基于所述错误计数值大于参考值,将包括操作停止命令或复位命令的信号发送至处理器。
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