[发明专利]玻璃基板缺陷识别示警方法、系统、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，所述方法包括：

采集目标液晶玻璃基板在多个不同颜色的显示背景时的图像，作为初始图像；所述初始图像中每一种颜色对应的图像有多张；

针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到该种颜色对应的待检测图像；

根据各种颜色对应的待检测图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型；

根据所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型确定示警模式，并进行示警。

2.根据权利要求1所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到该种颜色对应的待检测图像：

针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行图像平均，得到第一图像；

将所述第一图像进行尺度归一化处理，得到第二图像；

通过预设高斯滤波器将所述第二图像的像素灰度进行平均，得到该种颜色对应的待检测图像。

3.根据权利要求2所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，所述预设高斯滤波器采用卷积核为3×3的二维高斯函数。

4.根据权利要求1所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，根据各种颜色对应的待检测图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型包括：

采用方差阈值法识别各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域；

采用OTSU方法将缺陷区域在待检测图像中进行分割和位置标记；

将各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域进行组合得到缺陷图像；

根据所述缺陷图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型。

5.根据权利要求4所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，采用方差阈值法识别各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域包括：

针对每一种颜色对应的待检测图像，将所述待检测图像平均划分为多个子区域；

计算各子区域的像素方差，确定像素方差大于该颜色对应的预设阈值的子区域为缺陷子区域；

将相邻的各缺陷子区域相连作为缺陷区域。

6.根据权利要求4所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，采用OTSU方法将缺陷区域在待检测图像中进行分割和位置标记包括：

将待检测图像的每个灰度级作为阈值分别计算缺陷区域与待检测图像的背景的类间方差，确定类间方差最大时的灰度级作为分割阈值；

使用所述分割阈值将缺陷区域在待检测图像中进行分割和位置标记。

7.根据权利要求4所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，表面缺陷的类型包括油污、划痕和玻璃粉附着；

根据所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型确定示警模式，并进行示警包括：

当所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型为油污和/或玻璃粉附着，确定示警模式为清洗示警，显示所述缺陷图像的位置标记和表面缺陷的类型；

当所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型为划痕，确定示警模式为修复示警，显示所述缺陷图像的位置标记和表面缺陷的类型。

8.一种玻璃基板缺陷识别示警系统，其特征在于，包括采集模块、预处理模块、识别模块和示警模块；其中：

所述采集模块，用于采集目标液晶玻璃基板在多个不同颜色的显示背景时的图像，作为初始图像；所述初始图像中每一种颜色对应的图像有多张；

所述预处理模块，用于针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到该种颜色对应的待检测图像；

所述识别模块，用于根据各种颜色对应的待检测图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型；

所述示警模块，用于根据所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型确定示警模式，并进行示警。