[发明专利]玻璃基板缺陷识别示警方法、系统、电子设备和存储介质

说明书

本发明公开了本发明实施例提供了一种玻璃基板缺陷识别示警方法、系统、电子设备和存储介质，涉及TFT‑LCD液晶玻璃基板制造技术领域。采集目标液晶玻璃基板在多个不同颜色的显示背景时的图像作为初始图像；针对每一种颜色对应的图像将多张图像进行预处理得到该种颜色对应的待检测图像；根据各种颜色对应的待检测图像识别目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型；根据目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型确定示警模式进行示警。上述方法可以加强各种缺陷与背景之间的差异，有效进行缺陷识别降低误检率和漏检率，可以及时消除对应的表面缺陷，避免在后续生产中对玻璃基板表面造成损害，保证产品的质量。

技术领域

本发明涉及TFT-LCD液晶玻璃基板制造技术领域，具体涉及一种玻璃基板缺陷识别示警方法、系统、电子设备和存储介质。

背景技术

在TFT-LCD液晶玻璃基板生产过程中，玻璃基板表面及内部的缺陷需通过自动检查机进行检测与判定，从而实现产品质量的甄别，实时监控生产状态，确保生产的正常进行。

目前自动检查机仅对玻璃基板进行检测后，根据检出的缺陷数据对玻璃基板质量进行判定，而无法对某些特定缺陷，如油污、划伤或者区域内聚集的玻璃粉等进行有效识别报警。在后续生产过程中，这些缺陷可能导致玻璃基板表面出现更大范围划伤，影响产品的质量。

发明内容

本发明的目的就在于解决上述背景技术的问题，而提出一种玻璃基板缺陷识别示警方法、系统、电子设备和存储介质。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

本发明实施例第一方面，首先提供了一种玻璃基板缺陷识别示警方法，所述方法包括：

采集目标液晶玻璃基板在多个不同颜色的显示背景时的图像，作为初始图像；所述初始图像中每一种颜色对应的图像有多张；

针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到该种颜色对应的待检测图像；

根据各种颜色对应的待检测图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型；

根据所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型确定示警模式，并进行示警。

可选地，针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到该种颜色对应的待检测图像：

针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行图像平均，得到第一图像；

将所述第一图像进行尺度归一化处理，得到第二图像；

通过预设高斯滤波器将所述第二图像的像素灰度进行平均，得到该种颜色对应的待检测图像。

可选地，所述预设高斯滤波器采用卷积核为3×3的二维高斯函数。

可选地，根据各种颜色对应的待检测图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型包括：

采用方差阈值法识别各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域；

采用OTSU方法将缺陷区域在待检测图像中进行分割和位置标记；

将各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域进行组合得到缺陷图像；

根据所述缺陷图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型。

可选地，采用方差阈值法识别各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域包括：

针对每一种颜色对应的待检测图像，将所述待检测图像平均划分为多个子区域；

计算各子区域的像素方差，确定像素方差大于该颜色对应的预设阈值的子区域为缺陷子区域；

将相邻的各缺陷子区域相连作为缺陷区域。