[发明专利]一种测试方法、装置、电子设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202211432546.5 申请日: 2022-11-16
公开(公告)号: CN115576765B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 杨笑;刘克彬 申请(专利权)人: 南京芯驰半导体科技有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 代理人: 周伟
地址: 211899 江苏省南京市江北新区研创园团结路*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种测试方法,其特征在于,所述方法包括:

响应于测试模式为集线器HUB模式,则基于待测HUB的供应商识别码VID和/或产品识别码PID,从系统级芯片SOC上连接的至少两个HUB中确认待测HUB;

基于所述待测HUB对应的端口号确认HUB模式对应的子模式;

基于所述子模式,对所述待测HUB进行测试;

其中,所述基于所述子模式,对所述待测HUB进行测试,包括:若所述子模式为下行模式,则将第一测试数据包从SOC发送至预留的测试端口,经过第一夹具输入至所述待测HUB对应的上行端口,从所述待测HUB的下行端口输出,由第二夹具接收;所述下行模式对应的示波器采集所述待测HUB基于所述第一测试数据包输出的信号波形,基于所述信号波形,生成所述待测HUB对应的测试报告。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述待测HUB对应的端口号确认HUB模式对应的子模式,包括:

基于端口号与子模式之间的对应关系,以及所述待测HUB对应的端口号,确认所述HUB模式对应的子模式;

其中,所述子模式还包括上行模式。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,

响应于所述子模式为下行模式,则确认所述待测HUB对应的端口号是否小于SOC上连接的HUB数量的最大值;

响应于所述待测HUB对应的端口号大于SOC上连接的HUB数量的最大值,则发送错误信息。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

响应于所述测试模式为主机HOST模式或从机DEVICE模式,则确认待测通用串行总线USB控制器;

对待测USB控制器进行测试;

响应于接收针对所述待测USB控制器的修改值,则基于所述待测USB控制器的物理地址确认所述待测USB控制器对应的寄存器;

基于所述修改值修改所述寄存器。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述修改值修改所述寄存器之后,所述方法还包括:

重启所述寄存器对应的端口物理层PHY,对待测USB控制器进行测试。

6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,所述对待测USB控制器进行测试,包括:

向所述待测USB控制器发送第二测试数据包;

所述待测USB控制器对应的示波器采集所述待测USB控制器基于所述第二测试数据包输出的信号波形,基于所述信号波形生成所述待测USB控制器对应的测试报告。

7.一种测试装置,其特征在于,所述装置包括:

第一确认单元,用于响应于测试模式为集线器HUB模式,则基于待测HUB的供应商识别码VID和/或产品识别码PID,从系统级芯片SOC上连接的至少两个HUB中确认待测HUB;

第二确认单元,用于基于所述待测HUB对应的端口号确认HUB模式对应的子模式;

测试单元,用于基于所述子模式,对所述待测HUB进行测试;

所述测试单元,具体用于:若所述子模式为下行模式,则将第一测试数据包从SOC发送至预留的测试端口,经过第一夹具输入至所述待测HUB对应的上行端口,从所述待测HUB的下行端口输出,由第二夹具接收;所述下行模式对应的示波器采集所述待测HUB基于所述第一测试数据包输出的信号波形,基于所述信号波形,生成所述待测HUB对应的测试报告。

8. 一种电子设备,其特征在于,包括:

至少一个处理器;以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-6中任一项所述的方法。

9.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机指令用于使计算机执行根据权利要求1-6中任一项所述的方法。

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