[发明专利]一种测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 202211432546.5 | 申请日: | 2022-11-16 |
公开(公告)号: | CN115576765B | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 杨笑;刘克彬 | 申请(专利权)人: | 南京芯驰半导体科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人: | 周伟 |
地址: | 211899 江苏省南京市江北新区研创园团结路*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种测试方法,其特征在于,所述方法包括:
响应于测试模式为集线器HUB模式,则基于待测HUB的供应商识别码VID和/或产品识别码PID,从系统级芯片SOC上连接的至少两个HUB中确认待测HUB;
基于所述待测HUB对应的端口号确认HUB模式对应的子模式;
基于所述子模式,对所述待测HUB进行测试;
其中,所述基于所述子模式,对所述待测HUB进行测试,包括:若所述子模式为下行模式,则将第一测试数据包从SOC发送至预留的测试端口,经过第一夹具输入至所述待测HUB对应的上行端口,从所述待测HUB的下行端口输出,由第二夹具接收;所述下行模式对应的示波器采集所述待测HUB基于所述第一测试数据包输出的信号波形,基于所述信号波形,生成所述待测HUB对应的测试报告。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述待测HUB对应的端口号确认HUB模式对应的子模式,包括:
基于端口号与子模式之间的对应关系,以及所述待测HUB对应的端口号,确认所述HUB模式对应的子模式;
其中,所述子模式还包括上行模式。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,
响应于所述子模式为下行模式,则确认所述待测HUB对应的端口号是否小于SOC上连接的HUB数量的最大值;
响应于所述待测HUB对应的端口号大于SOC上连接的HUB数量的最大值,则发送错误信息。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
响应于所述测试模式为主机HOST模式或从机DEVICE模式,则确认待测通用串行总线USB控制器;
对待测USB控制器进行测试;
响应于接收针对所述待测USB控制器的修改值,则基于所述待测USB控制器的物理地址确认所述待测USB控制器对应的寄存器;
基于所述修改值修改所述寄存器。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述修改值修改所述寄存器之后,所述方法还包括:
重启所述寄存器对应的端口物理层PHY,对待测USB控制器进行测试。
6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,所述对待测USB控制器进行测试,包括:
向所述待测USB控制器发送第二测试数据包;
所述待测USB控制器对应的示波器采集所述待测USB控制器基于所述第二测试数据包输出的信号波形,基于所述信号波形生成所述待测USB控制器对应的测试报告。
7.一种测试装置,其特征在于,所述装置包括:
第一确认单元,用于响应于测试模式为集线器HUB模式,则基于待测HUB的供应商识别码VID和/或产品识别码PID,从系统级芯片SOC上连接的至少两个HUB中确认待测HUB;
第二确认单元,用于基于所述待测HUB对应的端口号确认HUB模式对应的子模式;
测试单元,用于基于所述子模式,对所述待测HUB进行测试;
所述测试单元,具体用于:若所述子模式为下行模式,则将第一测试数据包从SOC发送至预留的测试端口,经过第一夹具输入至所述待测HUB对应的上行端口,从所述待测HUB的下行端口输出,由第二夹具接收;所述下行模式对应的示波器采集所述待测HUB基于所述第一测试数据包输出的信号波形,基于所述信号波形,生成所述待测HUB对应的测试报告。
8. 一种电子设备,其特征在于,包括:
至少一个处理器;以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-6中任一项所述的方法。
9.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机指令用于使计算机执行根据权利要求1-6中任一项所述的方法。
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