[发明专利]一种测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本公开提供了一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，响应于测试模式为集线器（HUB）模式，则基于待测HUB的供应商识别码（VID）和/或产品识别码（PID），从系统级芯片（SOC）上连接的至少两个HUB中确认待测HUB；基于待测HUB对应的端口号确认所述集线器HUB模式对应的子模式；基于所述子模式，对所述待测HUB进行测试，可以在车机场景中，多个HUB与SOC直连情况下，获得SOC经过HUB下行端口的信号质量。

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在车机场景中，多个集线器（HUB）与系统级芯片（System on Chip，SOC）集成在一块电路板上，HUB的上行端口与SOC直连，很难按照相关技术中的测试方法对电路板上的某一个HUB进行测试，获得SOC经过HUB下行端口的信号质量。

发明内容

本公开提供了一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。

根据本公开的第一方面，提供了一种测试方法，包括：

响应于测试模式为集线器HUB模式，则基于待测HUB的供应商识别码（VID）和/或产品识别码（Product Identification code，PID），从系统级芯片上连接的至少两个HUB中确认待测HUB；

基于所述待测HUB对应的端口号确认所述HUB模式对应的子模式；

基于所述子模式，对所述待测HUB进行测试。

上述方案中，所述基于所述待测HUB对应的端口号确认所述HUB模式对应的子模式，包括：

基于端口号与子模式之间的对应关系，以及所述待测HUB对应的端口号，确认所述HUB模式对应的子模式；

其中，所述子模式包括上行模式或下行模式。

上述方案中，响应于所述子模式为下行模式，则确认所述待测HUB对应的端口号是否小于SOC上连接的HUB数量的最大值；

响应于所述待测HUB对应的端口号大于SOC上连接的HUB数量的最大值，则发送错误信息。

上述方案中，所述基于所述子模式，对所述待测HUB进行测试，包括：

向所述待测HUB发送第一测试数据包；

所述子模式对应的示波器采集所述待测HUB基于所述第一测试数据包输出的信号波形，基于所述信号波形生成所述待测HUB对应的测试报告。

上述方案中，所述方法还包括：

响应于所述测试模式为主机（HOST）模式或从机（DEVICE）模式，则确认待测通用串行总线（Universal Serial Bus，USB）控制器；

对待测USB控制器进行测试；

响应于接收针对所述待测USB控制器的修改值，则基于所述待测USB控制器的物理地址确认所述待测USB控制器对应的寄存器；

基于所述修改值修改所述寄存器。

上述方案中，所述基于所述修改值修改所述寄存器之后，所述方法还包括：

重启所述寄存器对应的端口物理层（Physical，PHY），对待测USB控制器进行测试。

上述方案中，所述对待测USB控制器进行测试，包括：

向所述待测USB控制器发送第二测试数据包；