[发明专利]一种提升高精度ADC图像传感器帧频的电路结构

权利要求书

1.一种提升高精度ADC图像传感器帧频的电路结构，包括依次连接的像素模块、列并行读出电路结构和数字控制处理模块，其中，列并行读出电路结构的每列包括依次连接的可变增益放大器、采样保持电路和ADC模块；所述像素模块用于产生一个像素信号和一个复位信号；所述可变增益放大器对像素模块产生的信号进行放大处理，并传输给采样保持电路；所述采样保持电路将经过放大处理的像素信号和复位信号进行采样并保存在电容当中，并传输给ADC模块；其特征在于：该电路结构还包括检测控制模块和斜坡发生器；所述检测控制模块连接ADC模块、斜坡发生器和数字控制处理模块；所述斜坡发生器用于产生斜坡信号传输给ADC模块；每一列的ADC模块包括一个比较器和一个计数器，用于完成模数转换，并进行计数工作；

在一行周期内，所述检测控制模块对每一列ADC模块中比较器的输出信号进行检测，当所有列信号检测完毕后，产生的信号对斜坡发生器产生的斜坡进行控制，同时也对数字控制处理模块的数据读出进行控制；所述数字控制处理模块对ADC模块产生的数据进行处理，并根据检测控制模块产生的信号触发数据向芯片外部输出。

2.根据权利要求1所述的提升高精度ADC图像传感器帧频的电路结构，其特征在于，所述检测控制模块位于ADC模块和斜坡发生器之间，针对每一列ADC模块内比较器的输出的变化进行检测，当检测出最后一列输出的变化后，检测控制模块将产生一个控制斜坡发生器的信号，结束斜坡发生器的斜坡产生；同时，检测控制模块产生的信号也传输给数字控制处理模块，用于后续数据读出工作的触发。

3.根据权利要求1所述的提升高精度ADC图像传感器帧频的电路结构，其特征在于，所述检测控制模块是多个与非门电路的集合，每个比较器的输出端连接一个与非门电路的输入端，检测每一列ADC模块中比较器输出的情况。

4.根据权利要求3所述的提升高精度ADC图像传感器帧频的电路结构，其特征在于，所述检测控制模块是将所有ADC模块中比较器的输出做“与”逻辑处理。

5.根据权利要求1所述的提升高精度ADC图像传感器帧频的电路结构，其特征在于，所述斜坡发生器包括一个能够单独控制大斜坡信号产生的使能开关，此开关由检测控制模块的输出信号控制。

6.根据权利要求5所述的提升高精度ADC图像传感器帧频的电路结构，其特征在于，所述检测控制模块只在斜坡发生器产生大斜坡的期间使能，其他时间处于关闭的状态。

7.根据权利要求1或5所述的提升高精度ADC图像传感器帧频的电路结构，其特征在于，所述斜坡发生器分别为ADC模块产生一小一大两个斜坡信号，分别用于复位信号和像素信号的比较。

8.根据权利要求1所述的提升高精度ADC图像传感器帧频的电路结构，其特征在于，所述计数器能够满足不同ADC精度的计数需求。