[发明专利]基于点云的外立面测量方法、测量系统及激光雷达

权利要求书

1.一种基于点云的外立面测量方法，用于测量待测建筑物的外立面数据，其特征在于，所述外立面测量方法包括：

获取待测建筑物的外立面点云模型；

利用至少一测量模型按预设测量顺序对所述外立面点云模型进行测量以获取测量模型与所述外立面点云模型位置关系；

根据所述位置关系获取外立面点云模型的测量数据，所述测量数据包括所述外立面点云模型上的爆点信息、墙面垂直度、墙面平整度以及等高线中的一种或多种；

存储所述测量数据。

2.如权利要求1所述的外立面测量方法，其特征在于，所述获取待测建筑物的外立面点云模型包括：

获取待测建筑物的外立面基本参数；

根据外立面基本参数规划扫描站点，所述扫描站点设于待测建筑物的所在地面上，所述扫描站点距离所述待测建筑物的位置关系根据所述外立面基本参数以及扫描装置的性能参数获取；

在每个扫描站点处进行激光扫描以获取待测建筑物的外立面点云模型。

3.如权利要求2所述的外立面测量方法，其特征在于，所述在每个扫描站点处进行激光扫描包括：

在每个扫描站点处进行激光扫描，获取外立面点云数据；

利用特征点将扫描站点获取的外立面点云数据进行拼接以获取外立面初始模型；

根据外立面点云数据中影像点的位置关系获取外立面初始模型中的待测建筑物的本体模型，并切割掉除本体模型以外的干扰模型。

4.如权利要求3所述的外立面测量方法，其特征在于，所述在每个扫描站点处进行激光扫描还包括：

根据外立面点云数据中影像点的位置关系对本体模型进行分割以获取外立面点云模型的若干子模型；

根据外立面点云数据中影像点的位置关系和/或人工标注获取子模型的测量状态，所述测量状态包括表示子模型是否为测量对象的状态信息；

保存属于待测建筑物的全部子模型作为所述外立面点云模型。

5.如权利要求4所述的外立面测量方法，其特征在于，所述测量模型为米字形模型，所述米字形模型包括4个一字形模型，每一一字形模型包括测量平面，利用至少一测量模型按预设测量顺序对所述外立面点云模型进行测量包括：

根据测量对象以及测量平面的形状和尺寸在子模型上获取测量点；

依次在测量点上利用米字形模型下尺获取测量平面与子模型的间距；

根据所述间距以及米字形模型的下尺位置获取所述测量数据。

6.如权利要求5所述的外立面测量方法，其特征在于，所述根据所述间距以及米字形模型的下尺位置获取所述测量数据，包括：

根据所述间距判断子模型上的影像点到测量平面的距离是否大于预设距离，若是则记录大于预设距离的影像点为子模型上的爆点信息；

根据下尺位置处竖直一字形模型的测量平面与重垂线的夹角获取测量点的墙面垂直度，所述竖直一字形模型为米字形模型中于重垂线位于同一垂直面的一字形模型；

根据爆点信息以及所述墙面垂直度获取测量点的墙面平整度；

以相同间距的等高面截取所述外立面点云模型，获取等高面与所述外立面点云模型的交线为所述等高线。

7.如权利要求5所述的外立面测量方法，其特征在于，所述依次在测量点上利用米字形模型下尺获取测量平面与子模型的间距，包括：

对于一测量点，将米字形模型的中心点沿所述测量点的法线方向靠近所述子模型；

获取米字形模型在测量点处的子模型与米字形模型的相切位置为所述下尺位置。