[发明专利]基于点云的外立面测量方法、测量系统及激光雷达

说明书

本发明公开了一种基于点云的外立面测量方法、测量系统及激光雷达，用于测量待测建筑物的外立面数据，所述外立面测量方法包括：获取待测建筑物的外立面点云模型；利用至少一测量模型按预设测量顺序对所述外立面点云模型进行测量以获取测量模型与所述外立面点云模型位置关系；根据所述位置关系获取外立面点云模型的测量数据，所述测量数据包括所述外立面点云模型上的爆点信息、墙面垂直度、墙面平整度以及等高线中的一种或多种；存储所述测量数据。本发明的基于点云的外立面测量方法、测量系统及激光雷达能够对建筑物的外立面进行建模并实现测量，特别适用于高层建筑的外立面测量，直观便捷的显示测量结果。

技术领域

本发明涉及一种基于点云的外立面测量方法、测量系统及激光雷达。

背景技术

所谓实际测量，是指应用测量工具，通过现场测试、测量并能真实反映产品质量数据的一种方法。根据相关的质量验收标准，计量控制工程质量数据误差在国家住房建设标准允许的范围内。

现有技术中，外立面测量一般要在混凝土阶段和外立面精装阶段进行实测实量。

现有的建筑物外立面测量通过人工在通过吊篮，一层层的进行外立面的平整度和垂直度测量，耗时耗力，且非常危险。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中建筑物外立面测量通过人工在通过吊篮，一层层的进行外立面的平整度和垂直度测量，耗时耗力，且非常危险的缺陷，提供一种能够对建筑物的外立面进行建模并实现测量，特别适用于高层建筑的外立面测量，直观便捷的显示测量结果的基于点云的外立面测量方法、测量系统及激光雷达。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

一种基于点云的外立面测量方法，用于测量待测建筑物的外立面数据，所述外立面测量方法包括：

获取待测建筑物的外立面点云模型；

利用至少一测量模型按预设测量顺序对所述外立面点云模型进行测量以获取测量模型与所述外立面点云模型位置关系；

根据所述位置关系获取外立面点云模型的测量数据，所述测量数据包括所述外立面点云模型上的爆点信息、墙面垂直度、墙面平整度以及等高线中的一种或多种；

存储所述测量数据。

较佳地，所述获取待测建筑物的外立面点云模型包括：

获取待测建筑物的外立面基本参数；

根据外立面基本参数规划扫描站点，所述扫描站点设于待测建筑物的所在地面上，所述扫描站点距离所述待测建筑物的位置关系根据所述外立面基本参数以及扫描装置的性能参数获取；

在每个扫描站点处进行激光扫描以获取待测建筑物的外立面点云模型。

较佳地，所述在每个扫描站点处进行激光扫描包括：

在每个扫描站点处进行激光扫描，获取外立面点云数据；

利用特征点将扫描站点获取的外立面点云数据进行拼接以获取外立面初始模型；

根据外立面点云数据中影像点的位置关系获取外立面初始模型中的待测建筑物的本体模型，并切割掉除本体模型以外的干扰模型。

较佳地，所述在每个扫描站点处进行激光扫描还包括：

根据外立面点云数据中影像点的位置关系对本体模型进行分割以获取外立面点云模型的若干子模型；

根据外立面点云数据中影像点的位置关系和/或人工标注获取子模型的测量状态，所述测量状态包括表示子模型是否为测量对象的状态信息；

保存属于待测建筑物的全部子模型作为所述外立面点云模型。