[发明专利]一种N型硅片的吸杂方法在审
申请号: | 202211508712.5 | 申请日: | 2022-11-29 |
公开(公告)号: | CN115775845A | 公开(公告)日: | 2023-03-10 |
发明(设计)人: | 安艳龙;王步峰;王强;陈斌 | 申请(专利权)人: | 尚义县荣登新能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 076750 河北省张家口市*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅片 方法 | ||
一种N型硅片的吸杂方法,对化学清洗及抛光后的硅片机体在700‑850°高温下退火炉内进行退火吸杂,退火吸杂过程中将氧气通入退火炉内,在氧气进入退火炉之前,氧气在低温纯水瓶内水浴通过,使氧气携带水蒸气进入退火炉内进行氧化反应;随后往退火炉内通入氮气,氮气进入退火炉之前,氮气在20℃恒温三氯氧磷恒温瓶内通过,使氮气携带三氯氧磷进入退火炉内,其通过对硅片机体进行高温退火处理,有效防止沉积金属离子杂质到硅片内部形成缺陷,改善N型硅片的质量,使得电池的转换效率更集中,综合效率提升可超过0.2%。
技术领域
本发明属于太阳能电池技术领域,特别涉及一种N型晶体硅电池使用的N型硅片的吸杂方法。
背景技术
目前N型单晶硅电池在生产过程,普遍使用的N型单晶硅片,由于N型硅的掺杂剂使用的磷元素,由于磷具有较低的分凝系数,导致在连续拉晶过程中,N型硅片的电阻率分布及勺子寿命分布较广。电阻率过低的部分由于其机体内杂质含量较高,过量的掺杂磷在体内导致光生载流子的复合加剧,残留金属离子对硅材料形成深能级的复合中心,导致电池的转换效率较低,且较低电阻率的硅片直接回收,会导致成本的极大的浪费。
发明内容
为解决现有技术存在的问题,本发明提供一种N型硅片的吸杂方法,其通过对硅片机体进行高温退火处理,有效防止沉积金属离子杂质到硅片内部形成缺陷,改善N型硅片的质量,使得电池的转换效率更集中,综合效率提升可超过0.2%。
为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:一种N型硅片的吸杂方法,包括对金刚线切割后的硅片进行化学清洗及抛光工艺,对化学清洗及抛光后的硅片机体在700-850°高温下退火炉内进行退火吸杂,退火吸杂过程中将氧气通入退火炉内,在氧气进入退火炉之前,氧气在低温纯水瓶内水浴通过,使氧气携带水蒸气进入退火炉内进行氧化反应;随后往退火炉内通入氮气,氮气进入退火炉之前,氮气在20℃恒温三氯氧磷恒温瓶内通过,使氮气携带三氯氧磷进入退火炉内。
进一步的,往退火炉内还通入氯化氢及氧气混合气体。
进一步的,通入退火炉内的氧气量为100-5000sccm,通入退火炉内的氮气量为100-3000sccm。
进一步的,氯化氢与氧气的混合量为氯化氢100-1000sccm ,氧气100-3000sccm。
进一步的,氧气与氮气在退火炉内的合计反应时间为200-6000秒。
与现有技术相比,本发明的有益效果在于:
1,由于本发明在氧源进入退火炉前水浴纯水,因此,氧源进入退火炉内后形成一定量的水蒸气,该水蒸气在于氧气共同作用在硅片上形成二氧化硅层的同时,有效增加三氯氧磷同氧气的反应,反应生成的磷原子,在高温条件下向硅片内部进行扩散,磷原子在扩散过程中会吸附硅片表面及内部的金属离子,使其从游离态限制到硅片氧化反应轴的缺陷位,有效实现吸杂的目的;
2,在磷原子吸杂的同时,本发明还通入氯化氢气体,从而进一步增加吸杂效果,改善N型硅片的质量,使得电池的转换效率更集中,综合效率提升超过0.2%,具有极大的经济价值。
具体实施方式
为对本发明做进一步说明,下面列举具体实施方式;
一、对金刚线切割的硅片进行化学清洗及抛光,可采用以下步骤工艺实现:
步骤一:在60-70℃下,使用质量浓度为0.1%-2%的氢氧化钠(或氢氧化钾)、质量浓度0.1%-10%质量浓度的双氧水的混合溶液,采用药液循环方式,辅助有氮气鼓泡对药液进行搅拌,工艺时间60-300秒;
步骤二:在常温下使用纯水对硅片进行清洗,工艺时间为60-300秒;-
步骤三:在75-85℃下,使用质量浓度未0.1%-5%的氢氧化钠(或氢氧化钾溶液进行清洗),清洗过程中采用药液循环方式,辅助有氮气鼓泡对药液进行搅拌,工艺时间60-300秒;
步骤四:在常温下使用纯水对硅片进行清洗,工艺时间60-300秒;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的