[发明专利]一种连接器高频性能测试装置及测试方法

说明书

本说明书实施例提供一种连接器高频性能测试装置，包括：高频测试工装，高频测试工装为转接结构，用于与待测同轴接线连接器的连接端同轴连接，高频测试工装与待测同轴接线连接器的高频特性相同，高频测试工装与待测同轴接线连接器连接时，高频测试工装与待测同轴接线连接器关于连接处对称；矢量网络分析仪的第一高频信号线与待测同轴接线连接器连接，矢量网络分析仪的第二高频信号线与高频测试工装连接，矢量网络分析仪用于通过第一高频信号线向待测同轴接线连接器发送高频测试信号，并通过第二高频信号线接收高频测试工装从待测同轴接线连接器转发的高频测试信号。通过对接的高频测试工装，可简单有效的测试同轴接线连接器的高频性能。

技术领域

本说明书涉及半导体技术领域，具体涉及一种连接器高频性能测试装置及测试方法。

背景技术

同轴连接器是一种常用的微波部件，是微波电子设备互联的最基本元器件之一。随着目前整机系统的小型化趋势，射频同轴连接器及射频同轴转接器也向着小型化、高频化的趋势发展，同时对于高频性能测试的要求也越来越高，故设计了一种针对小接口同轴接线连接器高频性能测试工装。

针对同轴接线连接器的测试，由于尾部为接线结构，无法直接与矢量网络分析仪等测试设备进行连接，通常采用接线后测试并进行估算，测试结果无法精准定位连接器自身高频特性。

发明内容

有鉴于此，本说明书实施例提供一种连接器高频性能测试装置及测试方法，以达到通过理论计算就可以得到待测同轴接线连接器的高频性能指标的目的。

本说明书实施例提供以下技术方案：

一种连接器高频性能测试装置，包括：

高频测试工装，高频测试工装为转接结构，用于与待测同轴接线连接器的连接端同轴连接，其中，高频测试工装与待测同轴接线连接器的高频特性相同，高频测试工装与待测同轴接线连接器连接时，高频测试工装与待测同轴接线连接器关于连接处对称；

矢量网络分析仪，矢量网络分析仪的第一高频信号线与待测同轴接线连接器连接，矢量网络分析仪的第二高频信号线与高频测试工装连接，矢量网络分析仪用于通过第一高频信号线向待测同轴接线连接器发送高频测试信号，并通过第二高频信号线接收高频测试工装从待测同轴接线连接器转发的高频测试信号。

进一步地，高频测试工装，包括：

外壳体；

内壳体，外壳体与内壳体通过过盈配合相互固定；

绝缘体，绝缘体固定在外壳体与内壳体之间；

内插芯，内插芯固定在绝缘体内部，高频测试工装和待测同轴接线连接器的连接端通过内插芯同轴连接。

进一步地，绝缘体两侧设置有环形槽，形成阻抗过渡补偿，并通过环形槽固定并支撑内插芯。

进一步地，内壳体和外壳体为锡青铜镀金材质。

进一步地，绝缘体为聚醚酰亚胺材质。

进一步地，内插芯为铍青铜材质。

进一步地，高频测试工装用于与待测同轴接线连接器的连接端连接的尾部为插针形式。

进一步地，矢量网络分析仪，还用于通过接收到的高频测试信号，计算出待测同轴接线连接器的电压驻波比和插入损耗。

进一步地，连接器高频性能测试装置的测试方法，包括：

通过矢量网络分析仪向待测同轴接线连接器发送高频测试信号；

通过待测同轴接线连接器将高频测试信号转接至高频测试工装；

通过高频测试工装将高频测试信号发送至矢量网络分析仪；