[发明专利]一种陶瓷盘清洗处理装置在审
申请号: | 202211541261.5 | 申请日: | 2022-12-02 |
公开(公告)号: | CN115841968A | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 杨杰;蒋君 | 申请(专利权)人: | 拓思精工科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677;B08B1/00;B08B1/02;B08B3/02 |
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地址: | 215000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 陶瓷 清洗 处理 装置 | ||
本发明公开了一种陶瓷盘清洗处理装置,包括外壳,外壳的顶板在第一工位、第二工位和第三工位的位置分别固定安装有排风口,外壳的顶板在第四工位的位置固定安装有高效过滤器FFU,外壳的内部设置有晶圆搬运装置、晶圆清洗装置和晶圆存取机构,晶圆存取机构固定安装在所述第一工位和第四工位的一侧,第四工位的晶圆清洗装置上还固定安装有吹气清理装置。本发明的有益效果是,通过上端的排风口对晶圆进行药水的喷淋,同时利用上部毛刷和下部毛刷对晶圆进行清理,且是多工位同时进行药水的清洗,可以提高药水清洗的效率,在药水清洗完成后,在第四工位进行水洗,保证晶圆的表面的洁净度,将残留于晶圆表面的污染物质应尽数去除。
技术领域
本发明涉及半导体加工技术领域,特别是一种陶瓷盘清洗处理装置。
背景技术
作为半导体元件制造的材料,硅晶圆(Si wafer)被广泛应用。硅晶圆是在硅表面生长同种硅的晶圆。硅晶圆因其使半导体集成化的区域的纯度及结晶特性优秀,且有利于半导体器件(device)的收率及元件特性而被广为利用。
通常,完成研磨(Lapping)的晶圆(Wafer)的表面被研磨油(Lapping oil)及粉(Powder)的淤渣(Sludge)污染。当以该状态进行下一个工程时,除了晶圆表面的擦伤(Scratch)外,研磨粉(Lapping powder)成分中金属成分可能会污染下一工程的装备,因而,研磨结束后,残留于晶圆表面的污染物质应尽量去除。
发明内容
本发明的目的是为了解决上述问题,设计了一种陶瓷盘清洗处理装置。
实现上述目的本发明的技术方案为,一种陶瓷盘清洗处理装置,包括外壳,所述外壳的顶板在第一工位、第二工位和第三工位的位置分别固定安装有排风口,所述外壳的顶板在第四工位的位置固定安装有高效过滤器FFU,所述外壳的内部设置有晶圆搬运装置、晶圆清洗装置和晶圆存取机构,所述晶圆清洗装置分别设置于所述第一工位、第二工位、第三工位和第四工位上,所述晶圆存取机构固定安装在所述第一工位和第四工位的一侧,所述第四工位的晶圆清洗装置上还固定安装有吹气清理装置,所述晶圆清洗装置包括上部清洗装置和下部清洗装置,所述上部清洗装置安装在所述第一工位、第二工位、第三工位和第四工位一侧的横向位移装置上,所述下部清理装置固定安装在所述第一工位、第二工位、第三工位和第四工位上。
作为对本发明的进一步说明,所述上部清洗装置包括固定件,所述固定件上部设置有T形板,所述T形板上安装有传动齿轮,所述T形板的一端安装有从动齿轮,所述从动齿轮通过连接轴穿过T形板连接有上部毛刷盘,所述T形板的一侧固定安装有上部旋转电机,所述上部旋转电机的上端通过连接轴连接有主动齿轮,所述主动齿轮与传动齿轮之间通过皮带连接,所述传动齿轮和从动齿轮之间也通过皮带连接。
作为对本发明的进一步说明,所述下部清洗装置包括安装板,所述安装板中心位置的底部固定安装有下部旋转电机,所述下部旋转电机的上端通过连接轴穿过安装板连接有下部毛刷盘,所述下部旋转电机的周围设置有圆周旋转机构。
作为对本发明的进一步说明,所述圆周旋转机构包括固定件,所述固定件固定安装在安装板下位面板上,所述固定件的底板上固定安装有距离调节装置,所述距离调节装置上安装有连接件,所述连接件上固定安装有转轴结构,所述转轴结构的上端通过连接轴连接有旋转元件,所述转轴结构的一侧通过齿轮和皮带连接有圆周旋转电机,所述旋转电机固定安装在连接件上。
作为对本发明的进一步说明,所述距离调节装置包括调节气缸,所述气缸上设置有滑轨,所述滑轨上安装有滑块,所述转轴结构安装在所述滑块上。
作为对本发明的进一步说明,所述横向位移装置包括固定安装在滑板底板上的横向滑轨,所述横向滑轨的一端规定安装有横向驱动气缸,所述横向滑轨上安装有滑块,所述晶圆清洗装置固定安装在滑块上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造