[发明专利]一种基于电池虚电检测装置及方法

说明书

本发明公开了一种基于电池虚电检测装置及方法，检测装置包括中控系统、MCU、电流源和待测电池，所述中控系统、电流源、待测电池都与MCU电性连接，所述MCU、待测电池都与电流源电性连接。本发明可以实时检测电池是否处在虚电状态，不让虚电电池直接带上电子设备，避免了电子设备反复重启，从而减少了电子设备损坏；待测电池在虚电的时候，能量较低，MCU消耗能量较低，一般只有几十毫瓦，待测电池作为一种几十瓦或几百瓦功率设备，其最低能量也有几十毫瓦，这时候的电量足够给MCU供电，为了防止待测电池供电等因素会损坏MCU，待测电池与MCU之间连接了一个反向二极管，有效保护了MCU。

技术领域

本发明涉及电池储能领域，尤其涉及一种基于电池虚电检测装置及方法。

背景技术

现有相关技术中，通过电池管理系统对电池状态及电量进行检测，一般都是通过电池电压pack电压来确定电池电量是否正常，然而有些电池在满电压的情况下，但电量并不是最大值或者说电压瞬间达到了电量的最大值，其电量很低，导致带载能力比较差，这就是电池虚电，如果这时候电子设备接上使用，当电子设备负载超过电池最大电量，则会使电子设备频繁开启及关闭，严重时，会导致电子设备损坏。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中的不足，提供一种基于电池虚电检测装置及方法。

为了达到上述目的，本发明是通过以下技术方案实现的：

一种基于电池虚电检测装置，包括中控系统、MCU、电流源和待测电池，所述中控系统、电流源、待测电池都与MCU电性连接，所述MCU、待测电池都与电流源电性连接。

作为优选，电流源为产生电流的电路。

作为优选，MCU用于控制电流源和存储待测电池的信息。

作为优选，中控系统用于接收MCU传输过来的待测电池的信息。

作为优选，待测电池用于给MCU和电流源供电。

作为优选，电流源包括电阻R1、电阻R2、N沟道MOS管Q1，所述N沟道MOS管Q1的G极连接电阻R2，所述N沟道MOS管Q1的S极连接地信号GND，所述N沟道MOS管Q1的D极连接电阻R1。

作为优选，中控系统包括显示模块、KEY模块、存储器、微处理器和网络接口，所述显示模块、网络接口都连接微处理器，所述KEY模块连接网络接口，所述微处理器连接存储器。

一种基于电池虚电检测方法,包括如下步骤：

步骤S1：MCU启动；

步骤S2：MCU控制电流源输出一个固定电流值，所述固定电流值根据电流源的负载电阻来确定，然后中控系统检测待测电池电压或MCU有没有掉电，若没有掉电，则表示待测电池正常工作；若待测电池电压或MCU有掉电，则MCU重启；

步骤S3：MCU向中控系统发送控制信息，若控制信息不包括控制标志则退出，否则表示待测电池存在虚电，则中控系统通过MCU控制待测电池进行维护；

步骤S4：维护完成后，MCU控制电流源对待测电池进行虚电检测,若不存在虚电，则MCU将控制信息中控制标志清除且退出，否则MCU重启后转到步骤S3，若MCU重启的次数达到10次，则MCU会将待测电池损坏的信息发送给中控系统，告诉检测人员此待测电池需要维修。

本发明的有益效果如下：本发明通过电流源可以快速检测电池虚电状态，并将检测结果通过MCU上报给中控系统，因此可以实时检测电池是否处在虚电状态，不让虚电电池直接带上电子设备，避免了电子设备反复重启，从而减少了电子设备损坏；待测电池在虚电的时候，能量较低，MCU消耗能量较低，一般只有几十毫瓦，待测电池作为一种几十瓦或几百瓦功率设备，其最低能量也有几十毫瓦，这时候的电量足够给MCU供电，为了防止待测电池供电等因素会损坏MCU，待测电池与MCU之间连接了一个反向二极管，有效保护了MCU。

附图说明