[发明专利]一种集成惯性传感器和磁传感器的封装结构及其封装方法在审

专利信息
申请号: 202211574459.3 申请日: 2022-12-08
公开(公告)号: CN115973990A 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 郭亚;刘尧青;刘海东;储莉玲 申请(专利权)人: 美新半导体(无锡)有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00;B81C3/00
代理公司: 苏州简理知识产权代理有限公司 32371 代理人: 庞聪雅
地址: 214000 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 集成 惯性 传感器 封装 结构 及其 方法
【说明书】:

发明提供一种集成惯性传感器和磁传感器的封装结构及其封装方法,集成惯性传感器和磁传感器的封装结构包括:第一半导体圆片,其正面设置有磁传感器,其背面设置有第一空腔和贯穿第一半导体圆片的导电窗口;第二半导体圆片,其正面与第一半导体圆片的背面相对且相互键合,第二半导体圆片的正面与第一空腔的相对位置处设置有第三空腔和惯性传感器;第二半导体圆片的正面与导电窗口的相对位置处设置有金属焊盘。与现有技术相比,本发明通过WLP扇出型的封装方式,将惯性传感器和磁传感器传感器集成到一个封装体内部,一方面可以缩短产品的加工周期,降低了加工成本;另一方面,产品的集成度更高,减小了封装体积,应用前景更广泛。

【技术领域】

本发明涉及集成式传感器技术领域,尤其涉及一种集成惯性传感器和磁传感器的封装结构及其封装方法。

【背景技术】

近些年来,微电子集成技术的研究和开发在CMOS(Complementary Metal OxideSemiconductor,即互补金属氧化物半导体)和MEMS(Micro-Electro-Mechanical System,即微机电系统)领域取得了惊人的进展。CMOS技术已经成为集成电路(IC)的主要制造技术。然而,MEMS仍然依赖于传统工艺技术。用通俗的话来说,CMOS电路就是“大脑”,提供决策能力,而MEMS是“眼睛”和“手臂”,提供感知和控制环境的能力。近些年来,消费类电子发展迅猛,伴随着智能手机的热销,传感器的应用领域越来越广泛。通常情况下,不同功能的传感器往往独立运用来实现其功能。随着消费类电子逐渐向轻,薄,小的方向发展,且对灵敏度的要求也越来越高,常规三轴传感器无法满足要求。因此,有必要提出集成度更高的多轴传感器满足市场需求。且不同传感器集成的同时,又对封装的尺寸和加工的成本提出了更高的要求。

【发明内容】

本发明的目的之一在于提供一种集成惯性传感器和磁传感器的封装结构及其封装方法,其通过WLP(Wafer Level Package,即晶圆级封装)扇出型的封装方式,将惯性传感器和磁传感器集成到一个封装体内部,一方面可以缩短产品的加工周期,降低了加工成本;另一方面,产品的集成度更高,减小了封装体积,应用前景更广泛。

根据本发明的一个方面,本发明提供一种集成惯性传感器和磁传感器的封装结构,其包括:第一半导体圆片,其正面设置有磁传感器,其背面设置有第一空腔和贯穿所述第一半导体圆片的导电窗口;第二半导体圆片,其正面与所述第一半导体圆片的背面相对且相互键合,所述第二半导体圆片的正面与所述第一空腔的相对位置处设置有第三空腔和惯性传感器;所述第二半导体圆片的正面与所述导电窗口的相对位置处设置有金属焊盘。

进一步的,所述集成惯性传感器和磁传感器的封装结构还包括:塑封料层,其填充并覆盖所述导电窗口,以及覆盖所述第一半导体圆片的正面;金属导线,其由所述金属焊盘和所述磁传感器引出并再分布到所述塑封料层远离所述第一半导体圆片的一侧表面。

进一步的,所述塑封料层在与所述金属焊盘和所述磁传感器的相对位置处分别设置有贯穿所述塑封料层的通孔,以露出所述金属焊盘和所述磁传感器;所述金属导线经所述通孔引出所述金属焊盘和所述磁传感器并再分布到所述塑封料层远离所述第一半导体圆片的一侧表面。

进一步的,所述第一空腔和第三空腔构成腔体A;所述惯性传感器位于所述腔体A内;所述金属焊盘与所述惯性传感器电连接;所述磁传感器与所述腔体A相对,且所述磁传感器位于所述导电窗口或金属焊盘的一侧。

进一步的,所述磁传感器包括磁传感器的控制单元及驱动电路;所述惯性传感器包括惯性传感器的控制单元及驱动电路。

进一步的,所述集成惯性传感器和磁传感器的封装结构还包括:焊球,其设置于所述塑封料层远离所述第一半导体圆片的一侧表面。

进一步的,所述惯性传感器为加速度传感器或陀螺仪;和/或所述腔体A为真空或包含一定大气压的气体。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美新半导体(无锡)有限公司,未经美新半导体(无锡)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211574459.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top