[发明专利]一种应用服务质量评价方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种应用服务质量评价方法，其特征在于，包括如下步骤：

获取待测试应用的代码，并调用第一测试平台统计各个测试阶段的所述待测试应用的代码的单元测试覆盖率；

基于各个测试阶段的所述待测试应用的单元测试覆盖率，调用第二测试平台统计各个测试阶段的待测试应用的代码的整体测试覆盖率；

获取待测试应用在各个测试阶段的缺陷，调用第三测试平台对所述缺陷进行缺陷统计后，基于第三测试平台统计的缺陷评价信息以及待测试应用的代码的整体测试覆盖率，对所述待测试应用进行质量打分。

2.根据权利要求1所述的应用服务质量评价方法，其特征在于，所述缺陷评价信息至少包括缺陷等级信息、缺陷发生阶段信息以及缺陷的重开次数信息。

3.根据权利要求2所述的应用服务质量评价方法，其特征在于，所述获取待测试应用在各个测试阶段的缺陷，调用第三测试平台对所述缺陷进行缺陷统计后，基于第三测试平台统计的缺陷评价信息以及待测试应用的代码的整体测试覆盖率，对所述待测试应用进行质量打分，包括：

获取待测试应用在各个测试阶段的缺陷，调用第三测试平台对所述缺陷进行缺陷统计，以获取缺陷等级信息、缺陷发生阶段信息以及缺陷的重开次数信息；

基于所述缺陷等级信息及其预设权重、缺陷发生阶段信息及其预设权重以及缺陷的重开次数信息及其预设权重，计算出缺陷评价分值；

基于所述缺陷评价分值以及待测试应用的代码的整体测试覆盖率，对所述待测试应用进行质量打分。

4.根据权利要求3所述的应用服务质量评价方法，其特征在于，所述基于所述缺陷等级信息及其预设权重、缺陷发生阶段信息及其预设权重以及缺陷的重开次数信息及其预设权重，计算出缺陷评价分值，包括：

基于所述缺陷等级信息及其预设权重、缺陷发生阶段信息及其预设权重以及缺陷的重开次数信息及其预设权重，分别计算出各个等级的缺陷打分值；

基于各个等级的缺陷打分值，计算出缺陷评价分值。

5.根据权利要求4所述的应用服务质量评价方法，其特征在于，所述个体打分值的计算方式为：

分别计算当前等级的各个缺陷的缺陷等级信息对应的预设权重、缺陷发生阶段信息对应的权重以及缺陷重开次数信息对应的预设权重的重开次数次方的乘积，并将各个乘积相加后，得到个体打分值。

6.根据权利要求5所述的应用服务质量评价方法，其特征在于，所述基于所述缺陷评价分值以及待测试应用的代码的整体测试覆盖率，对所述待测试应用进行质量打分，包括：

计算出缺陷评价分值与测试代码覆盖行数的比值，基于所述比值对所述待测试应用进行质量打分。

7.根据权利要求6所述的应用服务质量评价方法，其特征在于，所述质量打分的计算方法为：

S＝100-(W/L)*100，

其中，S表示质量打分值，W表示缺陷评价分值,L表示测试覆盖代码行数。

8.一种应用服务质量评价装置，其特征在于，包括：

代码单元测试覆盖率统计模块，用于获取待测试应用的代码，并调用第一测试平台统计各个测试阶段的所述待测试应用的代码的单元测试覆盖率；

代码整体测试率统计模块，用于基于各个测试阶段的所述待测试应用的单元测试覆盖率，调用第二测试平台统计各个测试阶段的待测试应用的代码的整体测试覆盖率；

评价模块，用于获取待测试应用在各个测试阶段的缺陷，调用第三测试平台对所述缺陷进行缺陷统计后，基于第三测试平台统计的缺陷评价信息以及待测试应用的代码的整体测试覆盖率，对所述待测试应用进行质量打分。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器和存储器；

所述存储器上存储有可被所述处理器执行的计算机程序；

所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任意一项所述的应用服务质量评价方法中的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括：处理器和存储器；

所述存储器上存储有可被所述处理器执行的计算机程序；

所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任意一项所述的应用服务质量评价方法中的步骤。