[发明专利]一种应用服务质量评价方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开一种应用服务质量评价方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：获取待测试应用的代码，并调用第一测试平台统计各个测试阶段的所述待测试应用的代码的单元测试覆盖率；基于各个测试阶段的所述待测试应用的单元测试覆盖率，调用第二测试平台统计各个测试阶段的待测试应用的代码的整体测试覆盖率；获取待测试应用在各个测试阶段的缺陷，调用第三测试平台对所述缺陷进行缺陷统计后，基于第三测试平台统计的缺陷评价信息以及待测试应用的代码的整体测试覆盖率，对所述待测试应用进行质量打分。本发明解决了现有技术中无法有效直观的进行应用服务质量评价的技术问题。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种应用服务质量评价方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

应用服务在上线之前，为了保证其可靠性，一般需要进行应用服务测试。

目前测试人员一般都是借助很多系统或平台进行测试，比如有缺陷和项目管理平台J IRA，单元测试扫描平台sonarqube以及代码覆盖率统计平台l i bra，平台虽然很多，但也比较分散，且各个平台之间没有有效的进行交互，导致无法对一个系统或者应用进行很直观的评分来判断这个应用的质量好坏。

发明内容

本发明的目的在于克服上述技术不足，提供一种适用于金融科技或其它相关技术领域的应用服务质量评价方法、装置、电子设备及存储介质，解决现有技术中无法有效直观的进行应用服务质量评价的技术问题。

为达到上述技术目的，本发明采取了以下技术方案：

第一方面，本发明提供一种应用服务质量评价方法，包括如下步骤：

获取待测试应用的代码，并调用第一测试平台统计各个测试阶段的所述待测试应用的代码的单元测试覆盖率；

基于各个测试阶段的所述待测试应用的单元测试覆盖率，调用第二测试平台统计各个测试阶段的待测试应用的代码的整体测试覆盖率；

获取待测试应用在各个测试阶段的缺陷，调用第三测试平台对所述缺陷进行缺陷统计后，基于第三测试平台统计的缺陷评价信息以及待测试应用的代码的整体测试覆盖率，对所述待测试应用进行质量打分。

在一些实施例中，所所述缺陷评价信息至少包括缺陷等级信息、缺陷发生阶段信息以及缺陷的重开次数信息。

在一些实施例中，所述获取待测试应用在各个测试阶段的缺陷，调用第三测试平台对所述缺陷进行缺陷统计后，基于第三测试平台统计的缺陷评价信息以及待测试应用的代码的整体测试覆盖率，对所述待测试应用进行质量打分，包括：

获取待测试应用在各个测试阶段的缺陷，调用第三测试平台对所述缺陷进行缺陷统计，以获取缺陷等级信息、缺陷发生阶段信息以及缺陷的重开次数信息；

基于所述缺陷等级信息及其预设权重、缺陷发生阶段信息及其预设权重以及缺陷的重开次数信息及其预设权重，计算出缺陷评价分值；

基于所述缺陷评价分值以及待测试应用的代码的整体测试覆盖率，对所述待测试应用进行质量打分。

在一些实施例中，所述基于所述缺陷等级信息及其预设权重、缺陷发生阶段信息及其预设权重以及缺陷的重开次数信息及其预设权重，计算出缺陷评价分值，包括：

基于所述缺陷等级信息及其预设权重、缺陷发生阶段信息及其预设权重以及缺陷的重开次数信息及其预设权重，分别计算出各个等级的缺陷打分值；

基于各个等级的缺陷打分值，计算出缺陷评价分值。

在一些实施例中，所述个体打分值的计算方式为：

分别计算当前等级的各个缺陷的缺陷等级信息对应的预设权重、缺陷发生阶段信息对应的权重以及缺陷重开次数信息对应的预设权重的重开次数次方的乘积，并将各个乘积相加后，得到个体打分值。