[发明专利]一种芯片测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：上位机模块，用于发送测试信号并存储测试结果，所述测试信号与预先配置的芯片测试信息相对应；测试模块，与所述上位机模块连接，用于对被测芯片进行相应测试；主控模块，与所述上位机模块、所述被测芯片连接，用于根据所述测试信号对所述被测芯片进行配置，并采集所述被测芯片的测试数据后发送至所述上位机模块，以生成所述测试结果。

2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述主控模块包括：配置子模块、采集子模块、传输子模块，所述配置子模块，接收所述测试信号，并根据所述测试信号对所述被测芯片进行配置；所述采集子模块，采集所述被测芯片的测试数据，并将所述测试数据发送至所述传输子模块；所述传输子模块，接收所述测试数据，并将所述测试数据发送至所述上位机模块。

3.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述配置子模块包括：互连的信号接口单元、控制单元、输出单元，所述测试信号通过所述信号接口单元传输至所述控制单元，由所述控制单元进行解析生成相应配置信号，再通过所述输出单元输出至所述被测芯片来对所述被测芯片进行配置。

4.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述采集子模块包括：互连的输入单元、数据存储单元、第一数据接口单元，所述输入单元接收所述被测芯片的测试数据，所述数据存储单元对所述测试数据进行存储，再通过所述第一数据接口单元输出至所述传输子模块。

5.根据权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，所述主控模块还包括：中断信号接收模块，所述中断信号接收模块接收所述上位机模块发送的中断信号，并控制所述采集子模块停止对所述测试数据的接收。

6.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述传输子模块包括：互连的第二数据接口单元、转换单元、第三数据接口单元，所述第二数据接口单元接收所述测试数据，所述转换单元将所述测试数据进行转换，所述第三数据接口单元将转换后的所述测试数据传输至所述上位机模块。

7.一种芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：接收上位机模块发送的测试信号，所述测试信号与预先配置的芯片测试信息相对应；根据所述测试信号对被测芯片的待测状态进行配置；通过测试模块对所述被测芯片进行测试；采集所述被测芯片的测试数据后发送至所述上位机模块以生成测试结果。

8.根据权利要求7所述的芯片测试方法，其特征在于，所述预先配置的芯片测试信息包括：一个或多个测试项以及对应的测试参数，根据每个测试项对所述待测芯片依次进行配置以及测试数据的采集，直至完成所有测试项的测试。

9.根据权利要求7所述的芯片测试方法，其特征在于，还包括：将所述测试数据与理论偏差值进行比较，以生成所述测试结果。

10.根据权利要求7所述的芯片测试方法，其特征在于，还包括：接收中断信号；中断对所述被测芯片的测试。